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存储器内二进位浮点乘法装置及其操作方法 

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申请/专利权人:芯立嘉集成电路(杭州)有限公司

摘要:本发明揭示一种存储器内二进位浮点乘法装置及其操作方法,装置对一被乘数及一乘数进行乘法运算以产生一第一乘积值,被乘数、乘数及第一乘积值皆是符合IEEE754格式的二进位浮点数,而且皆包含一符号位、一个q位指数以及一个p‑1位有效数。装置包含一互斥或门装置、一解码器电路、一加法器电路、一存储器内二进位乘法电路以及一编码器电路。互斥或门装置,用以接收被乘数及乘数的符号位,以产生第一乘积值的符号位。加法器电路,用以将被乘数及乘数的q位指数相加,以产生一个q+1位暂时指数。存储器内二进位乘法电路,用以对第一p位有效数及第二p位有效数进行乘法运算,以产生一个2p位第二乘积值。

主权项:1.一种存储器内浮点乘法装置,其特征在于,用以对一被乘数及一乘数进行乘法运算以产生一第一乘积值,其中所述被乘数、所述乘数及所述第一乘积值皆是符合IEEE754格式的一个二进位浮点数,而且皆包含一符号位、一个q位指数以及一个p-1位有效数,所述装置包含:一互斥或门装置,用以接收所述被乘数及所述乘数的符号位,以产生所述第一乘积值的符号位;一解码器电路,用以根据所述被乘数的q位指数以产生一第一前置位以及根据所述乘数的q位指数以产生一第二前置位,其中,所述第一前置位及所述被乘数的p-1位有效数形成一第一p位有效数,及所述第二前置位及所述乘数的p-1位有效数形成一第二p位有效数;一指数加法器电路,用以将所述被乘数及所述乘数的q位指数相加,以产生一个q+1位暂时指数;一存储器内二进位乘法电路,用以对所述第一p位有效数及所述第二p位有效数进行乘法运算,以产生一个2p位第二乘积值;以及一编码器电路,用以1从所述2p位第二乘积值的最高有效p位中分辨出一目标位位置且将所述目标位位置转换为一移位距离z、2根据所述q+1位暂时指数及一数值2-2q-1-z,计算所述第一乘积值的q位指数以及3将所述2p位第二乘积值向左移z个位位置,以产生所述第一乘积值的p-1位有效数;其中,所述目标位位置包含一非零值且最靠近所述2p位第二乘积值的最高有效位位置;以及其中,0=z=p-1且p+q=8。

全文数据:

权利要求:

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