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申请/专利权人：厦门大学
摘要：一种光致发光检测的micro‑LED检测方法、系统和电子设备，包括：1对micro‑LED模组进行扫描，获取模组中每个芯片的位置数据；2将激发光圈的中心定位于所需测量的单个芯片的其中一定位点，获取激发光圈区域内的PL光强数据，根据所需测量的单个芯片面积占激发光圈区域内总面积的比率计算所需测量的芯片的PL光强；3依次移动激发光圈至所需测量的芯片的其它定位点，并重复步骤2得到所需测量的芯片的多个PL光强，进行平均得到PL光强平均值；4调整激发光圈大小，重复步骤2‑3得到多个PL光强平均值，进行平均得到所需测量的芯片的PL光强数据。本发明有效分离获取单个芯片的精确数据，提高PL检测方法的精度。
主权项：1.一种光致发光检测的micro-LED检测方法，其特征在于，包括：1对micro-LED模组进行扫描，获取micro-LED模组中每个芯片的位置数据，根据每个所述芯片的位置数据确定每个所述芯片的若干定位点；2将激发光圈的中心定位于所需测量的单个芯片的其中一定位点，获取激发光圈区域内的PL光强数据，根据所需测量的单个芯片面积占所述激发光圈区域内总面积的比率计算所需测量的所述芯片的PL光强；3依次移动所述激发光圈至所需测量的所述芯片的其它定位点，并重复步骤2得到所需测量的所述芯片的多个PL光强，将得到的所需测量的所述芯片的所有PL光强进行平均得到PL光强平均值；4调整所述激发光圈大小，重复步骤2-3得到多个PL光强平均值，将所需测量的所述芯片的所有PL光强平均值进行平均得到所需测量的所述芯片的PL光强数据。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 厦门大学 光致发光检测的micro-LED检测方法、系统和电子设备
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