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申请/专利权人：重庆鹰谷光电股份有限公司
摘要：本实用新型涉及电子元器件测试设备技术领域，公开了一种PIN‑FET光接收组件测试装置，包括多个测试组，任意一个测试组连接有电源开关模块，任意一个测试组包括多个测试单元，同一个测试组的所述电源开关模块分别与多个测试单元连接；任意一个测试单元包括用于与待测PIN‑FET光接收组件连接的测试座，测试座的输出端通过输出控制模块与测试输出端连接，同一个测试组内的多个输出控制模块对应连接有相应数量的输出控制信号，且不同测试组的多个输出控制信号对应连接，任意一个测试组内多个测试座的电源输入端均通过对应的电源开关模块与输入电源连接；本实用新型有效简化操作，精简结构，提高测试速度，增大单次测试的量，且避免互相干扰。
主权项：1.一种PIN-FET光接收组件测试装置，其特征在于：包括多个测试组，任意一个测试组连接有电源开关模块，任意一个所述测试组包括多个测试单元，同一个所述测试组的所述电源开关模块分别与多个所述测试单元连接；任意一个所述测试单元包括用于与待测PIN-FET光接收组件连接的测试座，所述测试座的输出端通过输出控制模块与测试输出端连接，同一个所述测试组内的多个所述输出控制模块对应连接有相应数量的输出控制信号，且不同所述测试组的多个输出控制信号对应连接，任意一个所述测试组内多个所述测试座的电源输入端均通过对应的所述电源开关模块与输入电源连接。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 重庆鹰谷光电股份有限公司 一种PIN-FET光接收组件测试装置
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