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调试逻辑系统设计的方法、电子设备及存储介质 

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申请/专利权人:芯华章科技(厦门)有限公司

摘要:本申请实施例提供一种调试逻辑系统设计的方法、电子设备及存储介质,通过响应于第一指令,根据逻辑系统设计的描述和仿真数据确定第一信号的第一激励信号,并确定与第一信号和第一激励关联的第一模块,以在图形用户界面中显示该第一模块的电路示意图,并将与该第一模块对应的源代码与该第一模块的电路图关联地显示。通过本申请的方法,调试工具可以按照用户的需要以多种方式呈现逻辑系统设计中的目标信号例如,第一信号的错误的根原因并且与逻辑系统设计的源代码联动。这样使得用户可以通过图形用户界面中显示的电路示意图方便地分析和调试时序电路信号,提高了用户分析和调试时序电路信号的效率。

主权项:1.一种调试逻辑系统设计的方法,包括:获取所述逻辑系统设计的描述以及所述逻辑系统设计的仿真数据;接收第一指令;响应于所述第一指令,根据所述逻辑系统设计的描述和所述仿真数据确定第一信号的第一激励信号;确定与所述第一信号和所述第一激励信号关联的第一模块;以及在图形用户界面显示所述第一模块的电路示意图,其中,与所述第一模块对应的源代码与所述第一模块的电路图关联地显示。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 芯华章科技(厦门)有限公司 调试逻辑系统设计的方法、电子设备及存储介质

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