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申请/专利权人：宁波韧和科技有限公司;中科韧和科技(山东)有限公司

摘要：本发明提供一种用于电容阵列的电容检测校准电路与非线性校准方法。校准电路包括电容检测模块、处理模块与校准电容阵列；校准电容阵列具有与电容阵列相同的M行×N列的阵列排布，并且阵列单元为空白电容单元，仅设置与所在行列电极电连接的接口，接口之间未设置电容实体。利用该校准电路，将标称电容连接在校准电容阵列中，通过电容检测模块检测得到该标称电容的电容值，与通过LCR表测试值作为对照，得到校准曲线。利用该校准曲线对通过电容检测模块检测得到的电容值进行非线性校准，不仅能够提高电容检测准确性，而且能够消除排线寄生电容及同行同列电容单元间串扰影响，从而实现高精度电容检测。

主权项：1.用于电容阵列的电容检测校准电路，所述电容阵列包括M×N个电容元件，形成M行×N列的阵列排布，位于同一行的电容元件共用一根导线作为行电极，位于同一列的电容元件共用一根导线作为列电极；其特征是：所述校准电路包括电容检测模块、处理模块与校准电容阵列；所述校准电容阵列包括M×N个空白电容单元，形成M行×N列的阵列排布，位于同一行的空白电容单元共用一根导线作为行电极，位于同一列的空白电容单元共用一根导线作为列电极；所述空白电容单元是指无电容实体，仅设置与所在行的行电极电连接的行接口，以及与所在列的列电极电连接的列接口，该行接口与列接口之间未设置电容实体；待测电容单元的两端电极分别与所述校准电容阵列中的某个空白电容单元的行接口与列接口电连接；所述电容检测模块被配置为与所述校准电容阵列连接，用于检测第Ⅰ电容组的第Ⅰ电容值、第Ⅱ电容组的第Ⅱ电容值及第Ⅲ电容组的第Ⅲ电容值；所述第Ⅰ电容组包括所述待测电容单元和待测行电容单元；所述第Ⅱ电容组包括所述待测电容单元和待测列电容单元；所述第Ⅲ电容组包括所述待测行电容单元和所述待测列电容单元；所述待测行电容单元为与所述待测电容单元属于同一行的空白电容单元；所述待测列电容单元为与所述待测电容单元属于同一列的空白电容单元；所述处理模块与所述电容检测模块连接，用于根据所述第Ⅰ电容值、第Ⅱ电容值和第Ⅲ电容值得到所述待测电容单元的电容值。

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