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基于能量密度比的发散角高速测试方法及其装置 

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申请/专利权人:柯泰光芯(常州)测试技术有限公司

摘要:本发明公开了一种基于能量密度比的发散角高速测试方法及其装置,属于激光光束质量测试领域,包括获取CCD成像设备实际成像的像素尺寸Pixel以及芯膜距离H;通过测试芯片发射激光光束从而获取激光光束能量分布图;计算激光光束能量的分布图中所有像素的灰度值之和Gall;计算图像中每个像素与其对应的x坐标的平方的乘积之和Gx;每个像素与其对应的y坐标的平方的乘积之和Gy;计算质心坐标以及获取夹取水平,计算光束宽度D;根据光束宽度D、像素尺寸Pixel以及芯膜距离H计算激光光束发散角。本发明的有益效果是:能够基于视觉图像处理稳定、快速且更准确地计算激光发散角,从而检测激光光束的质量。

主权项:1.一种基于能量密度比的发散角高速测试方法,其特征在于:包括以下步骤;S1、获取CCD成像设备(2)实际成像的像素尺寸Pixel,将CCD成像设备(2)准确放置在漫透射膜(4)上方垂直位置,同时获取实际成像的像素尺寸Pixel;S2、获取芯膜距离H,将测试芯片(5)垂直放置于漫透射膜(4)的下方,计算测试芯片(5)到漫透射膜(4)的最短距离H;S3、获取激光光束能量分布图,利用测试芯片(5)发出激光光束,然后利用漫透射膜(4)将激光光束能量分布信息漫反射至CCD成像设备(2),CCD成像设备(2)获取漫透射膜(4)上的相对能量分布即可得到激光光束能量的分布图;S4、计算激光光束能量的分布图中所有像素的灰度值之和Gall;S5、计算图像中每个像素与其对应的x坐标的平方的乘积之和Gx;每个像素与其对应的y坐标的平方的乘积之和Gy;S6、计算质心坐标,根据Gx和Gall计算质心坐标的x值大小,根据Gy和Gall计算质心坐标的y值大小;S7、确定夹取水平,以递减的方式计算所有像素点的能量总和,直到能量总和超过夹取百分数时,该像素点即为夹取水平;S8、计算光束宽度D,沿通过质心的两条垂直线分别计算超过夹取水平的所有像素点,确定光束宽度D;S9、计算激光光束发散角θ,计算公式如下: 。

全文数据:

权利要求:

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