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一种QFN芯片高温测试自动出入料机构 

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申请/专利权人:上海赢朔电子科技股份有限公司

摘要:本发明公开了一种QFN芯片高温测试自动出入料机构,包括底座以及设置在底座上的入口加热轨道、入口材料转移机构、定位机构、芯片搬运机构、高温测试机构、不良品排出机构和出料轨道,芯片搬运机构包括单轴驱动器、单轴驱动器马达、纵向滑轨、下压马达固定板、两个搬运支架和四个下压马达;出料轨道和入口加热轨道分设在纵向滑轨的左右侧;入口材料转移机构设置在入口加热轨道的末端;定位机构与所述入口材料转移机构相邻设置;不良品排出机构和高温测试机构一一对应地设置在纵向滑轨的前后端。本发明的QFN芯片高温测试自动出入料机构,可以完成QFN芯片的高温测试,操作简便,减少操作工序,提高了生产效率。

主权项:1.一种QFN芯片高温测试自动出入料机构,其特征在于,包括底座以及设置在底座上的入口加热轨道、入口材料转移机构、定位机构、芯片搬运机构、高温测试机构、不良品排出机构和出料轨道,其中:所述芯片搬运机构包括单轴驱动器、单轴驱动器马达、纵向滑轨、下压马达固定板、两个搬运支架和四个下压马达,所述两个搬运支架一前一后地设置所述底座上;所述纵向滑轨跨接在所述两个搬运支架的顶端;所述单轴驱动器可前后移动地设置在所述纵向滑轨上,所述单轴驱动器马达与所述单轴驱动器相连,所述单轴驱动器的下方设置有电磁阀;所述下压马达固定板与所述单轴驱动器相连,所述四个下压马达从左至右依次设置在所述下压马达固定板上,每个下压马达均通过一凸轮连接一个搬运吸笔;所述入口加热轨道和出料轨道分别横向设置在所述两个搬运支架之间,且所述出料轨道和入口加热轨道分设在所述纵向滑轨的左右侧;所述入口材料转移机构设置在所述入口加热轨道的末端;所述定位机构与所述入口材料转移机构相邻设置;所述不良品排出机构和高温测试机构一一对应地设置在所述纵向滑轨的前后端,所述入口材料转移机构包括转移支架、上下转移电机、左右转移电机、左右滑轨、上下滑轨、转移吸笔支架和转移吸笔,所述转移支架固定在所述底座上;所述上下转移电机和左右转移电机一上一下地设置在所述转移支架上;所述左右滑轨和上下滑轨上分别设置有滑块,所述上下滑轨的底端固定在所述左右滑轨上的滑块上;所述上下转移电机通过传动件与所述左右滑轨上的滑块相连;所述左右转移电机通过偏心件与所述转移吸笔支架相连,所述转移吸笔支架与所述上下滑轨上的滑块相连,所述转移吸笔设置在所述转移吸笔支架上,所述定位机构包括定位支架、定位马达、定位单轴驱动器、定位导模固定板和四个定位导模,所述定位支架横向设置在所述底座上,所述定位单轴驱动器设置在所述定位支架上;所述定位马达驱动所述定位单轴驱动器运动;所述定位导模固定板的底端与所述定位单轴驱动器相连;所述定位导模固定板的下部设置有两块遮光片;所述四个定位导模从左至右依次设置在所述定位导模固定板的顶端;所述定位单轴驱动器的起始位与终止位上分别设置有光电开关。

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