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申请/专利权人：合肥通用机械研究院有限公司;国机特种设备检验有限公司;合肥通用机械研究院特种设备检验站有限公司

摘要：本发明公开了一种金属氢脆的非接触无损评价方法，涉及金属材料氢脆评价的技术领域，本发明通过X射线衍射技术得到衍射晶面间距，采用充氢后与充氢前的衍射晶面间距的变化量与充氢前的衍射晶面间距的比值表征氢致晶格畸变程度，从而明确氢原子对金属材料产生的晶格畸变效应，通过对比材料在特定充氢条件下的氢致晶格畸变程度与材料发生氢脆时的氢致晶格畸变程度，将二者氢致晶格畸变的比值作为金属氢脆的评价参量，来评价金属材料在特定充氢条件下的氢脆程度。本发明能够实现无损、非接触的评价金属材料在特定充氢条件下的氢脆程度。

主权项：1.一种金属氢脆的非接触无损评价方法，其特征在于，包括以下步骤：S1，将金属材料加工成测试试块A1和基准试块A0；S2，对基准试块A0的标定点M进行X射线衍射分析，得到基准试块A0的衍射角为2θ0，并计算得到基准试块A0的衍射晶面间距d0；S3，对基准试块A0进行高温气相充氢处理，充氢处理结束后将基准试块A0冷却至室温，随后对充氢处理后的基准试块A0的标定点M再次进行相同的X射线衍射分析，得到充氢处理后的基准试块A0的衍射角为2θ0’，并计算得到充氢处理后的基准试块A0的衍射晶面间距d0’；S4，计算得到高温气相充氢条件下金属材料的氢致晶格畸变ε0，ε0=d0’-d0d0；S5，对测试试块A1的标定点M进行相同的X射线衍射分析，得到测试试块A1的衍射角为2θ1，并计算得到测试试块A1的衍射晶面间距d1；S6，对测试试块A1进行特定条件的充氢处理，充氢处理结束后，对充氢处理后的测试试块A1的标定点M再次进行相同的X射线衍射分析，得到充氢处理后的测试试块A1的衍射角为2θ1’，并计算得到充氢处理后的测试试块A1的衍射晶面间距d1’；S7，计算特定充氢条件下金属材料的氢致晶格畸变ε1，ε1=d1’-d1d1；S8，将特定充氢条件下和高温气相充氢条件下的金属材料的氢致晶格畸变ε1与ε0的比值，作为金属氢脆的评价参量R，R=ε1ε0，金属氢脆的评价参量R用于评价在特定充氢条件下金属材料的氢脆程度；其中，R的值越大，表示金属材料的氢脆程度越大；步骤S3中，对基准试块A0进行高温气相充氢处理，直至基准试块A0中的氢原子达到饱和状态，停止进行高温气相充氢处理，即高温气相充氢处理结束；步骤S3中，所述高温气相充氢处理的温度低于引起材料发生显微组织变化的温度；步骤S6中，特定条件的充氢处理为常温高压充氢处理，充氢压力P1即为特定充氢压力。

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