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申请/专利权人：北京中电华大电子设计有限责任公司

摘要：本发明公开了一种电路板IO连通性的测试装置，测试装置包括测试控制模块、数据处理模块、数据校验模块、IO测试板。其中，数据处理模块通过IO接口信号连接至IO测试板，并配置输出IO管脚的电平状态，数据校验模块用于检测被测模块电路上任一路输入IO管脚的开路或短路的状态。本发明的测试装置用于电路板上MCU或FPGA芯片的IO与所连接的接插件的连通性测试，能准确检测出IO的开路或是相临两个IO的短路问题，快速定位电路板焊接或芯片IO失效问题，加快生产和测试效率。

主权项：1.一种电路板IO连通性的测试装置，其特征在于测试装置包括：测试控制模块、被测模块和IO测试板，其中：测试控制模块，实现产生和发送测试命令及数据，并显示测试结果的功能；与被测模块中的数据处理模块相连，实现IO测试命令及数据的产生和发送的功能；与被测模块中的数据校验模块相连，接收数据校验模块产生的IO测试结果数据并进行显示；被测模块包括数据处理模块和数据校验模块；数据处理模块，实现处理测试命令和测试数据的功能；与测试控制模块、IO测试板、数据校验模块相连，将测试控制模块发送的命令及数据转为IO测试板接口数据并发送给IO测试板，将IO测试板返回的IO状态数据发送给数据校验模块；数据校验模块，实现测试数据校验功能，生成测试结果数据；与测试控制模块、数据处理模块相连，数据校验模块对IO状态数据进行校验产生IO测试结果数据，将IO测试结果数据返回给测试控制模块；IO测试板，与被测模块中的数据处理模块相连，实现待测电路板IO的配置及IO电平检测功能；所述IO测试板由一路输出电路和n路输入电路组成,n≥1；输出电路，由一个输出IO管脚和一个反向器组成；输入电路，每一路电路中包括两个输入IO管脚，所述的两个输入IO管脚通过两个下拉电阻分别连接到低电平，所述的两个输入IO管脚通过另外两个上拉电阻分别连接到反向器两端；输入IO管脚依次连接到待测IO对应的接插件上，通过反向器使接插件上相临的IO的输入电平相反，从而支持检测相临IO的短路功能；所述的IO测试板中每一路输入电路的电路设计相同，在IO测试板上复制n路输入电路，从而实现2n个IO管脚的测试功能，实现多个IO的同时测试。

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