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申请/专利权人：河北省地质实验测试中心
摘要：一种用于测定钨矿石中主次量成分的方法，属于矿石成分分析技术领域。该方法先采用Na2B4O7‑Li2B4O7混合熔剂、Ta2O5和待测钨矿石样的混合物制备待测样片，然后采用多种标准物质作为校准样品，以Ta为内标元素校正钨元素，以钨元素标准值为横坐标，内标比为纵坐标绘制校准曲线；其他元素经过校正基体效应和谱线重叠干扰后，以各待测元素的标准值为横坐标，以X射线荧光强度为纵坐标绘制校准曲线；最后对待测样片进行测定，根据测得的各待测元素的X射线荧光强度和校准曲线，得到各待测元素的含量。该方法能够实现一次制样同时测定钨矿石中的10种主次量成分，节省了时间，提高了工作效率，满足绿色环保，节能低碳的要求。
主权项：1.用于测定钨矿石中主次量成分的方法，其特征在于，步骤如下：1待测样品的制备先将Na2B4O7-Li2B4O7混合熔剂、Ta2O5和待测钨矿石样于容器中混合均匀，然后在620-670℃预氧化25-35min，再在预氧化好的样品上滴加LiI溶液，升温至980-1050℃熔融并将熔融物混合均匀，最后将混合均匀的熔融物倒入模具中，成型后脱模，得到待测样片；2校准曲线的绘制先取多种标准物质作为校准样品，按照步骤1的方法，将待测钨矿石样分别替换为多种所述标准物质，制备多种校准样片，然后采用X射线荧光光谱仪对多种校准样片进行测定，得到各待测元素的X射线荧光强度；以Ta2O5中的Ta为内标元素校正钨元素，以钨元素标准值为横坐标，钨的LA线和钽的LA线的荧光发射强度的比值为纵坐标绘制校准曲线；其他元素经过校正基体效应和谱线重叠干扰后，以各待测元素的标准值为横坐标，以X射线荧光强度为纵坐标绘制校准曲线；3待测样品测定及各待测元素含量计算采用X射线荧光光谱仪对步骤1中制备的待测样片进行测定，测量条件与步骤2中相同，根据测得的各待测元素的X射线荧光强度和步骤2得到的校准曲线，得到各待测元素的含量。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 河北省地质实验测试中心 用于测定钨矿石中主次量成分的方法
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