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申请/专利权人：华中科技大学
摘要：本发明公开了一种等离子体密度分布测量方法、系统及介质，属于等离子体微波诊断领域，方法包括：测量不同频率的微波信号经过待测等离子体后微波信号的相位；根据相位、频率与等离子体密度n阶弦积分量之间的函数关系，计算等离子体密度n阶弦积分量，n＝1,2,…,N，N为不高于频率的数量的设定值；将系数未知的表征等离子体密度剖面的分布函数代入所述等离子体密度n阶弦积分量后，利用机器学习的方法求解得到所述分布函数的系数；根据系数已知的分布函数确定所述待测等离子体的密度分布。解决了现有等离子体密度分布测量方法在高密度下近似产生的误差较大的问题。
主权项：1.一种等离子体密度分布测量方法，其特征在于，包括：S1，测量不同频率的微波信号经过待测等离子体后微波信号的相位；S2，根据相位、频率与等离子体密度n阶弦积分量之间的函数关系，计算等离子体密度n阶弦积分量，n＝1,2,…,N，N为不高于频率的数量的设定值；S3，将系数未知的表征等离子体密度剖面的分布函数代入所述等离子体密度n阶弦积分量后，利用机器学习的方法求解得到所述分布函数的系数；S4，根据系数已知的分布函数确定所述待测等离子体的密度分布。
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权利要求：
百度查询： 华中科技大学 等离子体密度分布测量方法、系统及装置
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