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一种光电探测薄膜晶体管及其制备方法 

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申请/专利权人:中国科学院宁波材料技术与工程研究所

摘要:本发明公开了一种光电探测薄膜晶体管及其制备方法,该光电探测薄膜晶体管为底栅结构或顶栅结构,该光电探测薄膜晶体管包括衬底、沟道层、源电极和漏电极,该源电极和漏电极相互绝缘且间隔设置在沟道层上,该沟道层位于衬底上,该沟道层为铝镓氧氮薄膜。该光电探测薄膜晶体管能够实现在紫外光波段的较好的响应,并尽量减少可见光波段的干扰。

主权项:1.一种光电探测薄膜晶体管,其特征在于,所述光电探测薄膜晶体管为底栅结构或顶栅结构,所述光电探测薄膜晶体管包括衬底、沟道层、源电极和漏电极,所述源电极和漏电极相互绝缘且间隔设置在沟道层上,所述沟道层位于衬底上,所述沟道层为铝镓氧氮薄膜。

全文数据:

权利要求:

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