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申请/专利权人：深圳佰维存储科技股份有限公司
摘要：本发明提供一种DRAM的存储单元测试方法、系统、设备及存储介质，该方法包括：将预设测试数据写入待测试的DRAM的所有存储单元，存储单元根据预设突发长度组成存储单元组；创建访问数组，访问存储单元组，获得存储单元组的行列地址；根据行列地址读取对应存储单元组的当前测试数据，并与存储单元组的预设测试数据比较，若比较结果一致，则将存储单元组判定为已访问；根据行列地址获取对角线上的四个相邻行列地址，并根据相邻行列地址判断对应的相邻存储单元组是否被访问，若全部相邻存储单元组均被访问，则判定测试通过。本发明能够覆盖测试盲区并检测出较难发现的芯片缺陷，提高故障覆盖率，提升产品良性。
主权项：1.一种DRAM的存储单元测试方法，其特征在于，所述方法包括：将预设测试数据写入待测试的DRAM的所有存储单元，所述存储单元根据预设突发长度组成存储单元组；创建访问数组，访问所述存储单元组，获得所述存储单元组的行列地址；根据所述行列地址读取对应所述存储单元组的当前测试数据，并与所述存储单元组的所述预设测试数据比较，若比较结果一致，则将所述存储单元组判定为已访问；根据所述行列地址获取对角线上的四个相邻行列地址，并根据所述相邻行列地址判断对应的相邻存储单元组是否被访问，若全部所述相邻存储单元组均被访问，则判定测试通过。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 深圳佰维存储科技股份有限公司 DRAM的存储单元测试方法、系统、设备及存储介质
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