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半导体设备、用于半导体设备的控制方法和控制程序 

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申请/专利权人:瑞萨电子株式会社

摘要:本公开的各实施例涉及半导体设备、用于半导体设备的控制方法和控制程序。一种故障分析设备,用于分析装备有逻辑电路和存储器电路的半导体设备的故障。其具有存储设备和处理器。存储设备存储通过测试存储器电路获得的故障位数据和通过对逻辑电路的测试结果的故障诊断获得的故障诊断数据。处理器从故障位数据中提取故障IO值,从被包括在故障诊断数据中的估计故障部分中提取存储器连接端口的数据,存储器连接端口是到存储器电路的连接端口,并且确定故障IO值和被包括在存储器连接端口的数据中的端口ID之间的匹配不匹配。

主权项:1.一种故障分析设备,用于分析具有逻辑电路和存储器电路的半导体设备的故障,所述故障分析设备包括:存储设备,用于存储通过测试所述存储器电路获得的故障位数据和通过对所述逻辑电路的所述测试结果的故障诊断获得的故障诊断数据,以及处理器,其中所述处理器从所述故障位数据中提取故障IO,并且从被包括在所述故障诊断数据中的估计故障部分中提取存储器连接端口的数据,并且确定所述故障IO与被包括在所述存储器连接端口的所述数据中的端口ID是否匹配,所述存储器连接端口是到所述存储器电路的连接端口。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 瑞萨电子株式会社 半导体设备、用于半导体设备的控制方法和控制程序

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