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申请/专利权人：陕西夸克自控科技有限公司

摘要：本发明涉及FPGA故障模拟技术领域，一种FPGA单粒子故障模拟方法及系统，包括：启动故障模拟装置，其中，故障模拟装置包括粒子发射单元、FPGA防护单元、粒子冲击单元和FPGA测试单元，将待测试FPGA放入至FPGA防护单元内，启动粒子发射单元得到可发射粒子，在粒子冲击单元内，以待测试FPGA为目标，将可发射粒子发射至FPGA防护单元的待测试FPGA，执行碰撞测试，得到已碰撞FPGA，确定FPGA防护单元此时对已碰撞FPGA的防护强度，得到待测试FPGA的故障模拟结果。本发明可提高FPGA故障模拟的测试效率。

主权项：1.一种FPGA单粒子故障模拟方法，其特征在于，所述方法包括：步骤A：启动故障模拟装置，其中，故障模拟装置包括粒子发射单元、FPGA防护单元、粒子冲击单元和FPGA测试单元；步骤B：设定FPGA防护单元对待测试FPGA的防护强度，以及设定粒子发射单元的发射速度；所述设定FPGA防护单元对待测试FPGA的防护强度，以及设定粒子发射单元的发射速度，包括：将FPGA防护单元可设置的防护结构发送至测试人员，其中，防护结构包括板状、膜状、网状三种结构的盾层，且防护强度由高、中和低组成，高防护强度为板状结构的盾层、中防护强度为膜状结构的盾层，低防护强度为网状结构的盾层；接收测试人员所选中的防护结构后，将粒子发射单元可产生的发射速度的速度范围发送至测试人员；接受测试人员所选中的粒子发射单元的发射速度；步骤C：将待测试FPGA放入至FPGA防护单元内，其中，FPGA防护单元对待测试FPGA的防护强度与设定的防护强度相同；所述将待测试FPGA放入至FPGA防护单元内，包括：将待测试FPGA放入至FPGA防护单元的固定槽内，其中，FPGA防护单元还包括盾层生成单元，盾层生成单元位于固定槽周围，固定槽内安装有电路，且所安装的电路与FPGA测试单元的测试电路相通；根据设定的防护强度确定出对应的防护结构；利用盾层生成单元生成所确定的防护结构，且防护结构位于固定槽周围；步骤D：启动粒子发射单元，其中，粒子发射单元包括粒子加速器，利用粒子加速器对待发射粒子执行加速，直至待发射粒子的速度为所述发射速度后，得到可发射粒子；步骤E：在粒子冲击单元内，以待测试FPGA为目标，将可发射粒子发射至FPGA防护单元的待测试FPGA，执行碰撞测试，得到已碰撞FPGA；步骤F：利用FPGA测试单元测试已碰撞FPGA是否能正常工作；步骤G：若已碰撞FPGA可以正常工作，重新设定FPGA防护单元对待测试FPGA的防护强度，以及粒子发射单元的发射速度，并返回步骤C；步骤H：直至已碰撞FPGA不能正常工作，确定FPGA防护单元此时对已碰撞FPGA的防护强度，得到待测试FPGA的故障模拟结果。

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