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申请/专利权人：NANO科技(北京)有限公司
摘要：本发明公开一种单体集成相干收发器性能测量系统，包括：并行连接的保偏系统与非保偏系统，采用光开关和光环形器切换不同光路，具体包含一个电学参数测量链路和四个光学参数测量链路。可高效快速的一次性完成ICTR多项参数的测量，而且测量操作简单，测量速度快，测量效率远高于分项测试。
主权项：1.一种单体集成相干收发器性能测量系统，其特征在于，包括：并行连接的保偏系统与非保偏系统；所述保偏系统包括：1×2路保偏光开关，所述1×2路保偏光开关的输出侧设置空置的第五端口，并设置用于光输出的第四端口以形成第二光学测量链路；所述非保偏系统包括：程控偏振控制器、分路器、1×3路光开关、光环形器以及宽谱光源，所述程控偏振控制器改变保偏光的偏振态后接入所述分路器中，所述分路器分出的其中一路光形成监控光路，所述分路器分出的另一路光接入所述1×3路光开关；所述1×3路光开关的输出侧设置空置的第三端口，并设置用于光输出的第二端口以形成第三光学测量链路，同时设置用于光输出的第一端口，且所述第一端口接入所述光环形器，所述光环形器输出光以形成第一光学测量链路；所述宽谱光源输出光以形成第四光学测量链路；测试单体集成相干收发器时，所述第一光学测量链路接入单体集成相干收发器中的相干发射器模块的输出光口，所述第二光学测量链路接入单体集成相干收发器中的可变比光分离器的光分光口，所述第三光学测量链路接入单体集成相干收发器中的相干接收器模块的信号端输入光口，所述第四光学测量链路接入单体集成相干收发器中的光回环结构的回环输入光口；通过所述1×2路保偏光开关、所述1×3路光开关以及所述光环形器切换不同光学测量链路对单体集成相干收发器的不同参数进行测试。
全文数据：
权利要求：
百度查询： NANO科技(北京)有限公司 一种单体集成相干收发器性能测量系统
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