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申请/专利权人：中林信达(北京)科技信息有限责任公司

摘要：基于全球面、分色镜和双点源探测器的光学成像系统，涉及光学系统领域，包括主镜、次镜、分色镜、第一校正镜组、第二校正镜组、第一点源探测器和第二点源探测器；入射光依次通过主镜、次镜、分色镜后分成两路光线，一路光线通过第一校正镜组校正后入射至第一点源探测器上；同时另一路光线通过第二校正镜组校正后入射至第二点源探测器上；通过双点源探测器即第一点源探测器和第二点源探测器同时对目标进行成像，同时获取目标的光谱数据。本发明具有稳定性及环境适应性强、系统结构简单、成本低、双谱段图像数据同步获取、报警准确率高等优点。

主权项：1.基于全球面、分色镜和双点源探测器的光学成像系统，其特征在于，包括：主镜、次镜、分色镜、第一校正镜组、第二校正镜组、第一点源探测器和第二点源探测器；入射光依次通过主镜、次镜、分色镜后分成两路光线，一路光线通过第一校正镜组校正后入射至第一点源探测器上，通过第一点源探测器接收能量；同时另一路光线通过第二校正镜组校正后入射至第二点源探测器上，通过第二点源探测器接收能量；通过双点源探测器即第一点源探测器和第二点源探测器同时对目标进行成像，同时获取目标的光谱数据；所述第一校正镜组由第一校正镜、第二校正镜、第三校正镜组成；通过分色镜分光后的一路光线依次通过第一校正镜、第二校正镜、第三校正镜校正后入射至第一点源探测器上；所述第二校正镜组由第四校正镜、第五校正镜、第六校正镜组成；通过分色镜分光后的另一路光线依次通过第四校正镜、第五校正镜、第六校正镜校正后入射至第二点源探测器上；所述主镜的曲率半径为-450.9mm；所述次镜的曲率半径为-112.85mm；所述第一校正镜前表面的曲率半径为30.56mm，后表面的曲率半径为43.40mm；所述第二校正镜前表面的曲率半径为173.57mm，后表面的曲率半径为55.71mm；所述第三校正镜前表面的曲率半径为21.21mm，后表面的曲率半径为19.98mm；所述第四校正镜前表面的曲率半径为30.56mm，后表面的曲率半径为43.40mm；所述第五校正镜前表面的曲率半径为173.57mm，后表面的曲率半径为55.71mm；所述第六校正镜前表面的曲率半径为21.21mm，后表面的曲率半径为19.98mm；所述主镜的厚度为-163.13mm；所述次镜的厚度为212.46mm；所述分色镜的厚度为2mm；所述第一校正镜的厚度为5.18mm；所述第二校正镜的厚度为3.99mm；所述第三校正镜的厚度为6.29mm；所述第四校正镜的厚度为5.18mm；所述第五校正镜的厚度为3.99mm；所述第六校正镜的厚度为6.29mm。

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