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申请/专利权人：深圳市微特精密科技股份有限公司

摘要：本发明适用于液晶测试设备技术领域，提供了一种液晶介电常数测试装置，包括机架和安装在机架上的顶升单元、移动单元、第一载板、第二载板、厚度测试单元和介电常数测试单元，厚度测试单元位于第一载板的上方，介电常数测试单元位于第二载板处，第一载板的端部和第二载板的端部接触，移动单元设置在第一载板和第二载板的两侧，顶升单元设置在第一载板远离第二载板的端部，移动单元、第一载板和第二载板上均设有吸气孔，顶升单元用于控制液晶板的垂直高度，移动单元用于运送液晶板，厚度测试单元用于测试液晶板的厚度，介电常数测试单元用于测试液晶板的介电常数。装置本体结构简单，具有造价成本低的特点。

主权项：1.一种液晶介电常数测试装置，其特征在于，包括机架和安装在机架上的移动单元、第一载板、第二载板、厚度测试单元和介电常数测试单元，所述厚度测试单元位于所述第一载板的上方，所述介电常数测试单元位于所述第二载板处，所述第一载板的端部和所述第二载板的端部接触，所述移动单元设置在所述第一载板和所述第二载板的两侧，所述移动单元、所述第一载板和所述第二载板上均设有吸气孔，所述移动单元用于运送液晶板，所述第一载板和所述第二载板均用于放置液晶板，所述厚度测试单元用于测试液晶板的厚度，所述介电常数测试单元用于测试液晶板的介电常数；所述移动单元第一承重板、第二承重板、横板、气动滑轨、导轨和顶升气缸，所述气动滑轨和所述导轨平行设置在所述第一载板和所述第二载板的两侧，所述横板的一端连接所述气动滑轨的滑块上，所述横板的另一端和所述导轨滑动连接，所述第一承重板和所述第二承重板平行设置在所述第一载板和所述第二载板的两侧，所述第一承重板和所述第二承重板的顶部均设有带有吸气孔的凸台定位结构，所述顶升气缸安装在所述第一载板和第二载板下方的平行板的下方；所述厚度测试单元包括设置在所述第一载板上方第一滑动器、第二滑动器和激光测距传感器，所述第二滑动器连接所述第一滑动器的滑块上，所述激光测距传感器固定在所述第二滑动器的滑块上，所述第一滑动器长度方向的轴线和所述第二滑动器长度方向的轴线相互垂直；所述介电常数测试单元包括：相对设置的第一基板和第二基板；依次设置于所述第一基板朝向所述第二基板一面上的导电层和第一配向膜，所述导电层配置为接收第一电压信号；依次设置于所述第二基板朝向所述第一基板一面上的谐振结构层和第二配向膜，所述谐振结构层配置为接收第二电压信号，且配置为传输微波信号；设置于所述第一基板和所述第二基板之间的边框，所述边框配合所述第一基板和所述第二基板形成用于容纳待测量的液晶的空腔。

全文数据：液晶介电常数测试装置技术领域本发明属于液晶测试设备技术领域，尤其涉及一种液晶介电常数测试装置。背景技术随着电子技术不断的发展进步，对液晶材料在微波频段的介电常数进行精确测量是进行液晶微波器件设计与分析的关键。现有的对液晶材料在微波频段的介电常数的测量方法主要有三类：第一是微扰法，第二是谐振法，第三是移相器法。其中，微扰法的测量精度比较高，但测量装置结构复杂、造价高；移相器法的测量装置的结构比微扰法的测量装置的结构简单，但移相器法对结构件加工的精密度要求很高，同时需要配合强静磁场对液晶材料施加偏置磁场，因此结构仍然较为复杂，而且存在造价高的问题。发明内容有鉴于此，本发明实施例提供了一种液晶介电常数测试装置，以解决现有技术中液晶测试设备复杂、造价高的问题。为解决上述技术问题，本发明所采取的技术方案是：一种液晶介电常数测试装置，包括机架和安装在机架上的移动单元、第一载板、第二载板、厚度测试单元和介电常数测试单元，所述厚度测试单元位于所述第一载板的上方，所述介电常数测试单元位于所述第二载板处，所述第一载板的端部和所述第二载板的端部接触，所述移动单元设置在所述第一载板和所述第二载板的两侧，所述移动单元、所述第一载板和所述第二载板上均设有吸气孔，所述移动单元用于运送液晶板，所述第一载板和所述第二载板均用于放置液晶板，所述厚度测试单元用于测试液晶板的厚度，所述介电常数测试单元用于测试液晶板的介电常数。进一步地，所述移动单元第一承重板、第二承重板、横板、气动滑轨、导轨和顶升气缸，所述气动滑轨和所述导轨平行设置在所述第一载板和所述第二载板的两侧，所述横板的一端连接所述气动滑轨的滑块上，所述横板的另一端和所述导轨滑动连接，所述第一承重板和所述第二承重板平行设置在所述第一载板和所述第二载板的两侧，所述第一承重板和所述第二承重板的顶部均设有带有吸气孔的凸台定位结构，所述顶升气缸安装在所述第一载板和第二载板下方的平行板的下方。进一步地，所述厚度测试单元包括设置在所述第一载板上方第一滑动器、第二滑动器和激光测距传感器，所述第二滑动器连接所述第一滑动器的滑块上，所述激光测距传感器固定在所述第二滑动器的滑块上，所述第一滑动器长度方向的轴线和所述第二滑动器长度方向的轴线相互垂直。进一步地，所述介电常数测试单元包括：相对设置的第一基板和第二基板；依次设置于所述第一基板朝向所述第二基板一面上的导电层和第一配向膜，所述导电层配置为接收第一电压信号；依次设置于所述第二基板朝向所述第一基板一面上的谐振结构层和第二配向膜，所述谐振结构层配置为接收第二电压信号，且配置为传输微波信号；设置于所述第一基板和所述第二基板之间的边框，所述边框配合所述第一基板和所述第二基板形成用于容纳待测量的液晶的空腔。进一步地，所述谐振结构层包括：复合谐振结构，包括间隔设置的主谐振结构和从谐振结构，所述主谐振结构的品质因数小于所述从谐振结构的品质因数；分别设置于所述主谐振结构两端的第一信号线和第二信号线，所述第一信号线用于接收微波信号，所述第二信号线用于输出微波信号；连接于所述第一信号线与所述主谐振结构之间的第一耦合电容，及连接于所述第二信号线与所述主谐振结构之间的第二耦合电容。进一步地，所述主谐振结构包括直线状金属带条，所述直线状金属带条的一端与所述第一耦合电容电连接，另一端与所述第二耦合电容电连接。进一步地，所述第一耦合电容包括两个相对且间隔设置的第一金属电极，其中一个第一金属电极与所述主谐振结构的一端电连接，另一个第一金属电极与所述第一信号线电连接；所述第二耦合电容包括两个相对且间隔设置的第二金属电极，其中一个第二金属电极与所述主谐振结构的另一端电连接，另一个第二金属电极与所述第二信号线电连接。进一步地，所述空腔所占据的第一基板的区域至少覆盖所述从谐振结构在所述第一基板上的正投影。采用上述技术方案所产生的有益效果在于：本发明设计了一种液晶介电常数测试装置，包括机架和安装在机架上的移动单元、第一载板、第二载板、厚度测试单元和介电常数测试单元，厚度测试单元位于第一载板的上方，介电常数测试单元位于第二载板处，第一载板的端部和第二载板的端部接触，移动单元设置在第一载板和第二载板的两侧，移动单元、第一载板和第二载板上均设有吸气孔，移动单元用于运送液晶板，第一载板和第二载板均用于放置液晶板，厚度测试单元用于测试液晶板的厚度，介电常数测试单元用于测试液晶板的介电常数。对液晶板进行测试时，将液晶板放置在移动单元上，移动单元首先将液晶板运送至第一载板上，厚度测试单元对液晶板的厚度进行测试，当厚度完成测试后，移动单元将液晶板运送至第二载板上，介电常数测试单元对第二载板上的液晶板的介电常数进行测试，当完成测试后，移动单元将液晶板运送至初始位置，工作人员更换液晶板进行下一个液晶板的测试。本装置能够实现对液晶板的精确定位，对液晶板的厚度及介电常数进行测试，装置本体结构简单，具有造价成本低的特点。附图说明为了更清楚地说明本发明实施例中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。图1是本发明实施例提供的液晶介电常数测试装置的结构示意图。图中：1、机架；2、第一载板；3、第二载板；4、第一承重板；5、第二承重板；6、横板；7、气动滑轨；8、导轨；9、顶升气缸；10、第一滑动器；11、第二滑动器；12、激光测距传感器；13、第一基板；14、第二基板。具体实施方式以下描述中，为了说明而不是为了限定，提出了诸如特定系统结构、技术之类的具体细节，以便透彻理解本发明实施例。然而，本领域的技术人员应当清楚，在没有这些具体细节的其它实施例中也可以实现本发明。在其它情况中，省略对众所周知的系统、装置、电路以及方法的详细说明，以免不必要的细节妨碍本发明的描述。为了说明本发明所述的技术方案，下面通过具体实施例来进行说明。如图1所示，液晶介电常数测试装置包括机架1和安装在机架1上的移动单元、第一载板2、第二载板3、厚度测试单元和介电常数测试单元，厚度测试单元位于第一载板2的上方，介电常数测试单元位于第二载板3处，第一载板2的端部和第二载板3的端部接触，移动单元设置在第一载板2和第二载板3的两侧，移动单元、第一载板2和第二载板3上均设有吸气孔，移动单元用于运送液晶板，第一载板2和第二载板3均用于放置液晶板，厚度测试单元用于测试液晶板的厚度，介电常数测试单元用于测试液晶板的介电常数。对液晶板进行测试时，将液晶板放置在移动单元上，移动单元首先将液晶板运送至第一载板2上，厚度测试单元对液晶板的厚度进行测试，当厚度完成测试后，移动单元将液晶板运送至第二载板3上，介电常数测试单元对第二载板3上的液晶板的介电常数进行测试，当完成测试后，移动单元将液晶板运送至初始位置，工作人员更换液晶板进行下一个液晶板的测试。本装置能够实现对液晶板的精确定位，对液晶板的厚度及介电常数进行测试，装置本体结构简单，具有造价成本低的特点。本发明的一个实施例中，移动单元第一承重板4、第二承重板5、横板6、气动滑轨7、导轨8和顶升气缸9，气动滑轨7和导轨8平行设置在第一载板2和第二载板3的两侧，横板6的一端连接气动滑轨7的滑块上，横板6的另一端和导轨8滑动连接，第一承重板4和第二承重板5平行设置在第一载板2和第二载板3的两侧，第一承重板4和第二承重板5的顶部均设有带有吸气孔的凸台定位结构，顶升气缸9安装在第一载板2和第二载板3下方的平行板的下方。液晶板能够位于第一承重板4和第二承重板5顶部上的凸台定位结构上，吸气孔能够增强液晶板牢固的贴在第一承重板4和第二承重板5上，气动滑轨7上的滑块带动横板6沿导轨8滑动，进而带动第一承重板4和第二承重板5同时移动，实现移动液晶板的作用。当液晶板位于第一载板2完成厚度测试后，第一载板2上的吸气孔不再吸气，顶升气缸9的伸缩杆伸长，将第一载板2顶高，使液晶板位于第一承重板4和第二承重板5的凸台定位结构上，凸台定位结构上的吸气孔吸气，将液晶板固定在第一承重板4和第二承重板5上，气动滑轨7带动第一承重板4和第二承重板5移动至第二载板3处，顶升气缸9的伸缩杆收缩，凸台定位结构上的吸气孔停止吸气，第二载板3上的吸气孔进行吸气，使液晶板固定在第二载板3上，进行介电常数的测试，通过此种方式将液晶板从第一载板2上运送到第二载板3上。本发明的一个实施例中，厚度测试单元包括设置在第一载板2上方第一滑动器10、第二滑动器11和激光测距传感器12，第二滑动器11连接第一滑动器10的滑块上，激光测距传感器12固定在第二滑动器11的滑块上，第一滑动器10长度方向的轴线和第二滑动器11长度方向的轴线相互垂直。本发明的一个实施例中，介电常数测试单元包括：相对设置的第一基板13和第二基板14；依次设置于第一基板13朝向第二基板14一面上的导电层和第一配向膜，导电层配置为接收第一电压信号；依次设置于第二基板14朝向第一基板13一面上的谐振结构层和第二配向膜，谐振结构层配置为接收第二电压信号，且配置为传输微波信号；设置于第一基板13和第二基板14之间的边框，边框配合第一基板13和第二基板14形成用于容纳待测量的液晶的空腔。谐振结构层包括复合谐振结构，包括间隔设置的主谐振结构和从谐振结构，主谐振结构的品质因数小于从谐振结构的品质因数；分别设置于主谐振结构两端的第一信号线和第二信号线，第一信号线用于接收微波信号，第二信号线用于输出微波信号；连接于第一信号线与主谐振结构之间的第一耦合电容，及连接于第二信号线与主谐振结构之间的第二耦合电容。主谐振结构包括直线状金属带条，直线状金属带条的一端与第一耦合电容电连接，另一端与第二耦合电容电连接。第一耦合电容包括两个相对且间隔设置的第一金属电极，其中一个第一金属电极与主谐振结构的一端电连接，另一个第一金属电极与第一信号线电连接；第二耦合电容包括两个相对且间隔设置的第二金属电极，其中一个第二金属电极与主谐振结构的另一端电连接，另一个第二金属电极与第二信号线电连接。空腔所占据的第一基板13的区域至少覆盖从谐振结构在第一基板13上的正投影。以上所述实施例仅用以说明本发明的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述实施例对本发明进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本发明各实施例技术方案的精神和范围，均应包含在本发明的保护范围之内。

权利要求：1.一种液晶介电常数测试装置，其特征在于，包括机架和安装在机架上的移动单元、第一载板、第二载板、厚度测试单元和介电常数测试单元，所述厚度测试单元位于所述第一载板的上方，所述介电常数测试单元位于所述第二载板处，所述第一载板的端部和所述第二载板的端部接触，所述移动单元设置在所述第一载板和所述第二载板的两侧，所述移动单元、所述第一载板和所述第二载板上均设有吸气孔，所述移动单元用于运送液晶板，所述第一载板和所述第二载板均用于放置液晶板，所述厚度测试单元用于测试液晶板的厚度，所述介电常数测试单元用于测试液晶板的介电常数。2.根据权利要求1所述的液晶介电常数测试装置，其特征在于，所述移动单元第一承重板、第二承重板、横板、气动滑轨、导轨和顶升气缸，所述气动滑轨和所述导轨平行设置在所述第一载板和所述第二载板的两侧，所述横板的一端连接所述气动滑轨的滑块上，所述横板的另一端和所述导轨滑动连接，所述第一承重板和所述第二承重板平行设置在所述第一载板和所述第二载板的两侧，所述第一承重板和所述第二承重板的顶部均设有带有吸气孔的凸台定位结构，所述顶升气缸安装在所述第一载板和第二载板下方的平行板的下方。3.根据权利要求1所述的液晶介电常数测试装置，其特征在于，所述厚度测试单元包括设置在所述第一载板上方第一滑动器、第二滑动器和激光测距传感器，所述第二滑动器连接所述第一滑动器的滑块上，所述激光测距传感器固定在所述第二滑动器的滑块上，所述第一滑动器长度方向的轴线和所述第二滑动器长度方向的轴线相互垂直。4.根据权利要求1所述的液晶介电常数测试装置，其特征在于，所述介电常数测试单元包括：相对设置的第一基板和第二基板；依次设置于所述第一基板朝向所述第二基板一面上的导电层和第一配向膜，所述导电层配置为接收第一电压信号；依次设置于所述第二基板朝向所述第一基板一面上的谐振结构层和第二配向膜，所述谐振结构层配置为接收第二电压信号，且配置为传输微波信号；设置于所述第一基板和所述第二基板之间的边框，所述边框配合所述第一基板和所述第二基板形成用于容纳待测量的液晶的空腔。5.根据权利要求4所述的液晶介电常数测试装置，其特征在于，所述谐振结构层包括：复合谐振结构，包括间隔设置的主谐振结构和从谐振结构，所述主谐振结构的品质因数小于所述从谐振结构的品质因数；分别设置于所述主谐振结构两端的第一信号线和第二信号线，所述第一信号线用于接收微波信号，所述第二信号线用于输出微波信号；连接于所述第一信号线与所述主谐振结构之间的第一耦合电容，及连接于所述第二信号线与所述主谐振结构之间的第二耦合电容。6.根据权利要求5所述的液晶介电常数测试装置，其特征在于，所述主谐振结构包括直线状金属带条，所述直线状金属带条的一端与所述第一耦合电容电连接，另一端与所述第二耦合电容电连接。7.根据权利要求5所述的液晶介电常数测试装置，其特征在于，所述第一耦合电容包括两个相对且间隔设置的第一金属电极，其中一个第一金属电极与所述主谐振结构的一端电连接，另一个第一金属电极与所述第一信号线电连接；所述第二耦合电容包括两个相对且间隔设置的第二金属电极，其中一个第二金属电极与所述主谐振结构的另一端电连接，另一个第二金属电极与所述第二信号线电连接。8.根据权利要求4所述的液晶介电常数测试装置，其特征在于，所述空腔所占据的第一基板的区域至少覆盖所述从谐振结构在所述第一基板上的正投影。

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