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申请/专利权人：平方和(北京)科技有限公司
摘要：本发明涉及缺陷检测技术领域，尤其是指一种隐形眼镜三维形貌测量方法、装置及隐形眼镜缺陷检测系统，包括以下步骤：S01、获取待测镜片的物理结构参数；S02、根据物理结构参数提取待测镜片的物理结构特征值；S03、建立物理结构特征值与视觉组件参数之间的映射关系；S04、根据映射关系，将物理结构特征值映射到视觉组件参数上，并输出视觉组件参数。本发明对缺陷成像时所表现的三维形貌进行预检测，使得其检测时的姿态与所处的溶液环境均与进行缺陷成像时所表现的三维形貌保持一致，提升镜片缺陷检测设备检测效率和准确率。
主权项：1.隐形眼镜三维形貌测量方法，其特征在于，包括以下步骤：S01、获取待测镜片5的物理结构参数；S02、根据物理结构参数提取待测镜片5的物理结构特征值；S03、建立物理结构特征值与视觉组件参数之间的映射关系；S04、根据映射关系，将物理结构特征值映射到视觉组件参数上，并输出视觉组件参数。
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百度查询： 平方和(北京)科技有限公司 隐形眼镜三维形貌测量方法、装置及隐形眼镜缺陷检测系统
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