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溴掺杂的碘铋铜半导体薄膜的制备方法 

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申请/专利权人:苏州科技大学

摘要:本发明涉及一种溴掺杂的碘铋铜半导体薄膜的制备方法,包括以下步骤:S1、按化学比例调控溴化亚铜、碘化亚铜、碘化铋和碘单质,化学比例为:溴化亚铜与碘化亚铜的摩尔比例为0‑0.4之间,铜元素与铋元素的摩尔比例为0.4‑1.0,碘单质摩尔数等于溴化亚铜和碘化亚铜之和;S2、以N,N‑二甲基甲酰胺DMF为溶剂,将步骤S1中得到的混合物溶解,得到0.4‑0.8M浓度的碘铋铜溶液,作为旋涂前驱液;S3、采用旋涂法将前驱液涂布在衬底上;衬底为导电衬底或者带电极的绝缘基底;S4、对涂布后的基底进行热退火处理,退火温度为50℃至150℃,形成溴掺杂的碘铋铜半导体薄膜。本发明为碘铋铜在光电领域的应用提供了新的可能性,具有重要的科学价值和实际应用前景。

主权项:1.一种溴掺杂的碘铋铜半导体薄膜的制备方法,其特征在于,包括以下步骤:S1、按化学比例调控溴化亚铜、碘化亚铜、碘化铋和碘单质,化学比例为:溴化亚铜与碘化亚铜的摩尔比例为0-0.4之间,铜元素与铋元素的摩尔比例为0.4-1.0,碘单质摩尔数等于溴化亚铜和碘化亚铜之和;S2、以N,N-二甲基甲酰胺DMF为溶剂,将步骤S1中得到的混合物溶解,得到0.4-0.8M浓度的碘铋铜溶液,作为旋涂前驱液;S3、采用旋涂法将前驱液涂布在衬底上;衬底为导电衬底或者带电极的绝缘基底;S4、对涂布后的基底进行热退火处理,退火温度为50℃至150℃,形成溴掺杂的碘铋铜半导体薄膜。

全文数据:

权利要求:

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