龙图腾网&IPTOP
- 微信扫码登录
- 账号密码登录
- 短信登录/注册
买专利卖专利找龙图腾，真高效！ 查专利查商标用IPTOP,全免费！专利年费监控用IP管家,真方便！
申请/专利权人：上海理工大学
摘要：本发明涉及一种失效运算放大器表面态缺陷的检测方法，包括以下步骤：S1：分别对正常运算放大器和失效运算放大器加电，获取两个运算放大器均处于正常工作状态下的端口间的初始漏电流值；S2：对两个运算放大器持续加电，判断两个运算放大器端口间的漏电流值的变化，若正常运算放大器端口间的漏电流值无明显变化，失效运算放大器端口间的漏电流值逐渐增加，则执行S3；S3：对失效运算放大器进行高温贮存，若失效运算放大器端口间的漏电流值恢复到初始漏电流值，执行S4；S4：定位并基于失效运算放大器中的漏电单元，分析并确定运算放大器的失效是否由表面态缺陷所致。与现有技术相比，本发明能够准确定位运算放大器的失效是否由于表面态缺陷所致。
主权项：1.一种失效运算放大器表面态缺陷的检测方法，其特征在于，包括以下步骤：S1：分别对正常运算放大器和失效运算放大器加电，并使得两个运算放大器均处于正常工作状态，分别获取两个运算放大器端口间的初始漏电流值；S2：分别对两个运算放大器持续加电，判断两个运算放大器端口间的漏电流值的变化，若正常运算放大器端口间的漏电流值无明显变化，失效运算放大器端口间的漏电流值逐渐增加，则执行S3；S3：对所述失效运算放大器进行高温贮存，检测所述失效运算放大器端口间的漏电流值，若该漏电流值恢复到初始漏电流值，则执行S4；S4：定位所述失效运算放大器中的漏电单元；获取并基于所述漏电单元的寄生结构，确定运算放大器的失效是否由表面态缺陷所致；所述S4包括以下步骤：S4.1：将失效运算放大器开封，并对失效运算放大器进行加电测试，定位失效运算放大器中导致漏电流值随时间逐渐增加的漏电单元；S4.2：获取并基于漏电单元的寄生结构，确定漏电单元是否存在表面态缺陷的失效机理，进而确定运算放大器的失效是否由表面态缺陷所致；所述S4.2中，当所述漏电单元的寄生结构中的寄生MOS管的源极和漏极之间形成漏电流，则确定该漏电单元存在表面态缺陷的失效机理，进而确定运算放大器的失效由表面态缺陷所致。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 上海理工大学 一种失效运算放大器表面态缺陷的检测方法
免责声明
1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息，力求客观、公正，但并不保证数据的最终完整性和准确性。
2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。
主营中国专利交易买卖与专利转让许可,高校科技成果推广与科技成果转化,知识产权运营管理与平台开发,科技人才专家库与科技猎头等科技服务
开放平台
担保交易
惠及多方
会员特惠
专属平台
适合多方
数据共享
功能齐全
皖公网安备 34010402703815号