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申请/专利权人：发那科株式会社
申请日：2019-05-27
公开（公告）日：2024-08-27
公开（公告）号：CN110543141B
专利技术分类：....监视通用控制系统（G05B19/4062优先）[2006.01]
专利摘要：本发明提供一种诊断装置、诊断方法以及诊断程序，其能够确定加工不良的因素。诊断装置1具有：收集部101，其收集加工机2运转时输出的机械数据；特征提取部102，其按输入的加工不良的因素对机械数据进行分类，并按该因素从机械数据的集合中提取特征量；以及判定部103，其将加工机2实际加工时输出的机械数据的特征量与按因素的特征量进行比较，根据吻合度来判定加工不良的因素。
专利权项：1.一种诊断装置，其特征在于，具备：收集部，其按照每个预定的采用时间收集加工机运转时输出的机械数据；特征提取部，其将对于被判定为加工不良的加工实际成绩而收集到的所述机械数据按所输入的该加工不良的因素进行分类，并从按该因素分类后的所述机械数据与正常时的相同种类的机械数据进行比较的结果即偏差的集合中提取用于与其他因素相比的每个因素的特征量；以及判定部，其将所述加工机实际加工时输出的所述机械数据的特征量与所述每个因素的特征量进行比较，根据吻合度来判定加工不良的因素。
百度查询： 发那科株式会社 诊断装置、诊断方法以及诊断程序
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