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申请/专利权人：浙江大学
摘要：本发明公开了一种单片磁导计检测系统及磁轭损耗检测方法；本发明的单片磁导计检测系统包括：励磁模块、单片磁导计、测量仪器模块以及数据处理模块；本发明在单片磁导计中引入一组辅助励磁绕组和一组辅助感应绕组，通过测量辅助绕组的电压计算磁轭损耗，从而实现了对单片损耗测量误差的补偿，解决了传统单片测试方法测试单片损耗时结果包含磁轭损耗的问题，提升了检测系统的准确性。
主权项：1.一种单片磁导计，其特征在于，包括一组U型测量磁轭对、一个绕组框架、一组测试励磁绕组Nex、一组测试感应绕组Nb、两组H-线圈Nh、一组辅助励磁绕组Ney和一组辅助感应绕组Nby；所述U型测量磁轭对包括上下对称布置的两个U型测量磁轭，且两个U型测量磁对合形成一个封闭磁轭，所述绕组框架架设在所述封闭磁轭内部；所述测试励磁绕组Nex和测试感应绕组Nb均绕制在绕组框架上，且测试感应绕组Nb位于测试励磁绕组Nex内侧；待测单片设置在所述两个U型测量磁轭之间且从绕组框架中间穿过；两组H-线圈Nh分别设置在待测单片的上下极面；所述辅助励磁绕组Ney和所述辅助感应绕组Nby绕制在同一个U型测量磁轭上，且辅助励磁绕组Ney的线圈匝数和测试励磁绕组Nex的线圈匝数相同，辅助感应绕组Nby的线圈匝数和测试感应绕组Nb的线圈匝数相同。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 浙江大学 一种单片磁导计检测系统及磁轭损耗检测方法
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