龙图腾网&IPTOP
- 微信扫码登录
- 账号密码登录
- 短信登录/注册
买专利卖专利找龙图腾，真高效！ 查专利查商标用IPTOP,全免费！专利年费监控用IP管家,真方便！
申请/专利权人：浙江大学
摘要：本发明公开了一种单片测试装置及有效磁路长度检测方法。本发明中单片测试装置包括多组H‑线圈，通过放置多组H‑线圈于特定位置，导出多组H‑线圈的磁场强度数据，再对数据进行处理，最后计算出待测单片的真实磁场强度值，有效减少了磁场强度的测量误差。同时，利用计算的磁场强度真实值，推导出单片测试装置的有效磁路长度。本发明能够更准确地测定磁场强度并得到有效磁路长度，与传统的H线圈法和励磁电流法相比，本发明通过优化H‑线圈的布局和利用特定的计算方法，能够精准测量待测单片的磁场强度真实值，并根据磁场强度真实值计算有效磁路长度，为提高软磁单片性能测试数据精确性提供保障。
主权项：1.一种单片测试装置，其特征在于，包括一组U型测量磁轭对、一个绕组框架、偶数组H-线圈、一组励磁线圈、一组感应线圈以及与H-线圈组数相同的多个移动板；所述U型测量磁轭对包括上下对称布置的两个U型测量磁轭，且两个U型测量磁对合形成一个封闭磁轭；所述绕组框架架设在所述封闭磁轭内部；所述励磁绕组和感应绕组均绕制在绕组框架上，且感应绕组位于励磁绕组内侧；所述绕组框架中间具有用于设置待测单片和移动板的空间；待测单片设置在所述两个U型测量磁轭之间且从绕组框架中间穿过；多组H-线圈分别绕制在多个移动板上，其中一半数量的移动板设置在待测单片的一侧，另一半数量移动板设置在待测单片另一侧；所述移动板用于调整H-线圈与待测单片之间的距离。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 浙江大学 一种单片测试装置及有效磁路长度检测方法
免责声明
1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息，力求客观、公正，但并不保证数据的最终完整性和准确性。
2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。
主营中国专利交易买卖与专利转让许可,高校科技成果推广与科技成果转化,知识产权运营管理与平台开发,科技人才专家库与科技猎头等科技服务
开放平台
担保交易
惠及多方
会员特惠
专属平台
适合多方
数据共享
功能齐全
皖公网安备 34010402703815号