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申请/专利权人：江苏佰杨汽车科技有限公司
摘要：本实用新型涉及晶振测试技术领域，尤其为一种MCU晶振测试装置，包括主机，所述主机的一侧固定安装有挡板，所述主机的内部开设有空槽，所述空槽的内部设置有间歇结构。该一种MCU晶振测试装置，通过间歇结构，在对晶振进行测试时，通过将一批晶振按顺序卡在限位槽中，此时启动测试杆对其正下方的晶振进行测试，此时通过启动驱动电机，使第一转杆带动连接盘转动，由于花齿轮的凹面与月牙盘贴合，故在连接盘带动月牙盘转动时，卡柱转入直槽中，从而带动花齿轮间歇转动，由此可使转盘间歇旋转，从而可对转盘上固定的晶振进行依次测试，由此达到了批量对晶振进行自动测试的目的。
主权项：1.一种MCU晶振测试装置，包括主机1，其特征在于：所述主机1的一侧固定安装有挡板2，所述主机1的内部开设有空槽6，所述空槽6的内部设置有间歇结构7；所述间歇结构7包括固定环71和第二转杆74，所述固定环71固定与空槽6的内壁顶部，所述第二转杆74与主机1为转动连接，所述固定环71的内部固定安装有驱动电机72，所述驱动电机72的输出轴一端固定安装第一转杆73，所述73的外表面一端固定安装有连接盘77，所述连接盘77的顶部固定一侧安装有卡柱79，所述连接盘77的顶部固定安装有月牙盘78，所述第二转杆74的外表面固定安装有花齿轮75，所述花齿轮75的内部开设有多个直槽76。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 江苏佰杨汽车科技有限公司 一种MCU晶振测试装置
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