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申请/专利权人：北京科技大学
摘要：本发明公开了一种闭环控制系统性能降级检测与恢复方法，用于实现流程工业过程的闭环控制系统性能降级检测与恢复，属于工业过程监测技术领域，所述方法包括：采集待检测的闭环控制系统的过程数据；基于间隙度量技术对闭环控制系统进行性能降级检测；构建基于闭环子空间预测函数的前馈控制器和基于观测器的状态反馈控制器；在检测出闭环控制系统出现性能降级时，利用基于闭环子空间预测函数的前馈控制器和基于观测器的状态反馈控制器，优化闭环控制系统的性能，实现闭环控制系统的性能恢复。采用本发明的技术方案，可以保证流程工业生产过程的系统运行可靠性以及产品质量稳定性。
主权项：1.一种闭环控制系统性能降级检测与恢复方法，用于实现流程工业过程的闭环控制系统性能降级检测与恢复，其特征在于，包括：采集待检测的闭环控制系统的过程数据；其中，所述过程数据包括闭环控制系统的外部输入数据、过程输入数据和过程输出数据；利用闭环控制系统的过程数据，基于间隙度量技术，对闭环控制系统进行性能降级检测，判断闭环控制系统是否出现性能降级；构建基于闭环子空间预测函数的前馈控制器和基于观测器的状态反馈控制器；在检测出闭环控制系统出现性能降级时，基于预设的恢复策略，利用基于闭环子空间预测函数的前馈控制器和基于观测器的状态反馈控制器，优化闭环控制系统的性能，实现闭环控制系统的性能恢复。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 北京科技大学 一种闭环控制系统性能降级检测与恢复方法
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