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申请/专利权人：国网湖北省电力有限公司电力科学研究院;湖北金浪高科技发展有限公司
摘要：一种基于改进FMEA‑FTA的功率半导体IGBT模块状态评估方法，包括：根据性能退化特征量获取失效的IGBT模块；对失效的IGBT模块进行归纳分析，得到相应的失效模式；运用可靠性屋HoR进行失效模式评分，获得IGBT模块失效模式的风险因素评分矩阵和风险因素权重矩阵；基于粗糙集理论进行评分信息融合，获得IGBT模块失效模式的评分粗糙数矩阵和风险因素权重粗糙数矩阵；重构失效模式评分粗糙数矩阵，对重构后的失效模式的评分粗糙数矩阵进行失效模式风险等级分析，对失效模式的危害度等级进行排序。本发明引入可靠性屋、粗糙集理论和理想点法克服了FMEA‑FTA的缺陷，提升了FMEA和FTA分析的客观性和准确性。
主权项：1.一种基于改进FMEA-FTA的功率半导体IGBT模块状态评估方法，其特征在于，包括如下步骤：1监测功率半导体IGBT模块的性能退化特征量，根据性能退化特征量获取失效的IGBT模块；2采用逆向综合分析，通过故障树方法对失效的IGBT模块进行归纳分析，得到相应的失效模式；3运用可靠性屋HoR进行失效模式评分，获得IGBT模块失效模式的风险因素评分矩阵和风险因素权重矩阵，所述风险因素包括严重度S、发生率O和难检度D；4根据获得的IGBT模块失效模式的风险因素评分矩阵和风险因素权重矩阵，基于粗糙集理论进行评分信息融合，获得IGBT模块失效模式的评分粗糙数矩阵和风险因素权重粗糙数矩阵；5获得考虑失效传播影响的失效模式严重度和发生率评分粗糙数，重构失效模式评分粗糙数矩阵，采用VIKOR方法对重构后的失效模式的评分粗糙数矩阵进行失效模式风险等级分析，对失效模式的危害度等级进行排序。
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