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一种熔点仪及熔点测量方法 

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申请/专利权人:常州市武进人民医院(常州市第八人民医院)

摘要:本发明公开了一种熔点仪及熔点测量方法,其中熔点仪,包括控制芯片MCU、加热平台、光敏传感器、温度传感器和LED光源,所述控制芯片MCU与加热平台电连接,所述LED光源设置在加热平台下方,所述光敏传感器设置在加热平台上方,所述光敏传感器采集加热平台的透光量,并发送给控制芯片MCU,所述温度传感器采集加热平台的温度数据,并发送给控制芯片MCU,所述控制芯片MCU根据透光量变化确定待测样品的熔点。本发明通过光敏传感器采集光线的强度,在待测样品开始融化时,能够准确的判断出光线的细微变化,从而使得熔点的判断更加准确,免去去了CCD摄像机和电脑的采购,极大的降低了成本。

主权项:1.一种熔点仪,其特征在于:包括控制芯片MCU、加热平台、光敏传感器、温度传感器和LED光源,所述控制芯片MCU与加热平台电连接,所述LED光源设置在加热平台下方,所述光敏传感器设置在加热平台上方,所述光敏传感器采集加热平台的透光量,并发送给控制芯片MCU,所述温度传感器采集加热平台的温度数据,并发送给控制芯片MCU,所述控制芯片MCU根据透光量变化确定待测样品的熔点。

全文数据:

权利要求:

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