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申请/专利权人：中国电子科技集团公司第十研究所
摘要：本发明提供一种电子组合的可靠性建模与预计方法，涉及电子设备可靠性设计分析领域，解决现有方法无法有效开展基于公共信息处理资源池的电子组合可靠性分析问题；方法包括：S1、获取电子组合的结构信息与使用信息，确定电子组合的信息传播路径；S2、基于信息传播路径，开展电子组合的功能与故障影响分析，建立电子组合的“池式资源”可靠性模型；S3、获取电子组合内部电子模块各功能组成部分的可靠性信息；S4、计算单个电子模块各功能组成部分的任务可靠度，得到电子组合任务可靠度；S5、计算电子组合平均严重故障时间；本发明可提高电子组合可靠性分析工作的完整性和准确度，确保电子产品在设计阶段即可预见并规避未来的可靠性风险。
主权项：1.一种电子组合的可靠性建模与预计方法，其特征在于，所述方法包括如下步骤：S1、获取电子组合的结构信息与使用信息，确定电子组合的信息传播路径；S2、基于信息传播路径，开展电子组合的功能与故障影响分析，建立电子组合的“池式资源”可靠性模型；S3、获取电子组合内部电子模块各功能组成部分的可靠性信息；S4、计算单个电子模块各功能组成部分的任务可靠度，从而得到电子组合任务可靠度。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 中国电子科技集团公司第十研究所 一种电子组合的可靠性建模与预计方法
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