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申请/专利权人：合肥工业大学
摘要：本发明涉及原子发射光谱学的物质组份分析技术领域，具体描述的是一种基于系数计算法来减小样品形貌对LIBS光谱影响的方法，根据自主搭建的LIBS实验系统测得表面形貌起伏标准样品的光谱数据，根据光谱数据用CNN建立表面形貌起伏参量预测模型，并预测检测样品的表面形貌起伏参量，基于光谱特征参数与表面形貌起伏参量的函数关系，利用系数计算法建立光谱校正模型，并对检测样品的光谱进行校正，利用偏最小二乘回归法对校正后的光谱进行定量分析。本发明提供的方法能有效减小样品表面形貌起伏对定量分析模型精度的影响，对光谱校正后，光谱强度稳定性增强、定量分析模型的检测精度明显提高。
主权项：1.一种基于系数计算法来减小样品形貌对LIBS光谱影响的方法，其特征在于，所述的方法包括：根据自主搭建的LIBS实验系统测得表面形貌起伏标准样品的光谱数据，根据光谱数据用CNN建立表面形貌起伏参量预测模型，并预测检测样品的表面形貌起伏参量，基于光谱特征参数与表面形貌起伏参量的函数关系，利用系数计算法建立光谱校正模型，并对检测样品的光谱进行校正，利用偏最小二乘回归法对校正后的光谱进行定量分析。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 合肥工业大学 一种基于系数计算法来减小样品形貌对LIBS光谱影响的方法
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