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申请/专利权人：北京中科昊芯科技有限公司
摘要：本发明公开的一种基于芯片调试的波形显示范围的自适应调整方法与系统，其中方法包括：获取用户点击数据以启动芯片调试，用户点击数据包括与自然时间顺序相关的关联性数据；基于用户点击数据进行视图范围筛选，基于用户点击数据识别得到目标断点，从而基于目标断点自适应调整视图范围；基于用户点击数据对断点进行管理以更新目标断点，并基于更新后的目标断点进行视图范围调整，若更新后无目标断点，则最大化显示芯片调试的视图范围；若更新后目标断点数量值超限，则进行调试终止，移除所有断点等待重新调试。本发明可以在对芯片调试时，根据用户设置的断点对调试的波形显示范围进行自适应调整，从而增强显示控制，同时确保可针对性进行调试。
主权项：1.一种基于芯片调试的波形显示范围的自适应调整方法，其特征在于，包括以下步骤：获取用户点击数据以启动芯片调试，其中，所述用户点击数据具体包括与自然时间顺序相关的关联性数据；基于所述用户点击数据进行视图范围筛选，其中，基于用户点击数据识别得到目标断点，从而基于目标断点自适应调整视图范围；基于用户点击数据对所述断点进行管理以更新所述目标断点，并基于更新后的所述目标断点进行视图范围调整，其中，若更新后无目标断点，则最大化显示当其芯片调试的视图范围；若更新后所述目标断点数量值超限，则进行调试终止与报错，并移除所有断点等待重新调试。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 北京中科昊芯科技有限公司 基于芯片调试的波形显示范围的自适应调整方法与系统
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