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自参考X射线自由电子激光脉冲到达时间诊断装置 

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申请/专利权人:上海科技大学

摘要:本发明涉及一种自参考X射线自由电子激光脉冲到达时间诊断装置,其特征在于,包括超连续白光产生模块;时空色散模块;真空腔:X射线自由电子激光从与聚焦后的超连续白光脉冲的入射方向不同的方向射入真空腔内;成像光谱仪:将超连续白光脉冲聚焦在样品上的线成像在成像光谱仪的入射狭缝上;X射线自由电子激光与超连续白光脉冲重叠部分的光谱为发生透射率突变的信号光谱,X射线自由电子激光与超连续白光脉冲未重叠部分的光谱为参考光谱,将发生透射率突变的信号光谱与参考光谱相除获得所需信息。本发明将超连续白光脉冲聚焦成线,同时在该线进行光谱测量,从而对同一个脉冲同时获得了经过相同光路的发生透射率突变的光谱和参考光谱,极大地提高了光谱信噪比。

主权项:1.一种自参考X射线自由电子激光脉冲到达时间诊断装置,其特征在于,包括:超连续白光产生模块:与X射线自由电子激光同步的光学脉冲激光聚焦到超连续白光产生模块后,形成超连续白光脉冲;时空色散模块:超连续白光脉冲经准直后入射到时空色散模块,时空色散模块将超连续白光脉冲在时间维度上色散,经过时空展宽后的超连续白光脉冲聚焦成一条线射入真空腔内,并且其焦点位于真空腔内的样品上;样品能够与X射线自由电子激光作用产生折射率突变;真空腔:X射线自由电子激光从与聚焦后的超连续白光脉冲的入射方向不同的方向射入真空腔内,且在空间维度上,X射线自由电子激光入射在超连续白光脉冲照射在样品上所形成的线照射区域上,在时间维度上,X射线自由电子激光在超连续白光脉冲的时间展宽窗口范围内;成像光谱仪:将超连续白光脉冲聚焦在样品上的线成像在成像光谱仪的入射狭缝上,超连续白光脉冲聚焦在样品上的线与成像光谱仪的入射狭缝在狭缝长度方向上重合,X射线自由电子激光与超连续白光脉冲的重叠部分以及未重叠部分均成像在入射狭缝上,其中:超连续白光脉冲与X射线自由电子激光重叠部分的光谱为发生透射率突变的信号光谱,X射线自由电子激光与超连续白光脉冲未重叠部分的光谱为参考光谱;成像光谱仪能够同时测量入射狭缝长度方向上不同位置的光谱,将发生透射率突变的信号光谱与参考光谱相除获得所需信息。

全文数据:

权利要求:

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