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申请/专利权人：武汉科技大学
摘要：本发明属于非金属夹杂物分析技术领域，尤其涉及一种夹杂物统计分析方法，所述方法包括，获得待统计试样的夹杂物预估平均尺寸；扫描所述待统计试样，获得所述待统计试样中任意两个待确认夹杂物之间的距离；用所述任意两个待确认夹杂物之间的距离分别与所述夹杂物预估平均尺寸比较，获得待统计试样的夹杂物数量。采用本发明提供的方法夹杂物数量统计结果与人工统计夹杂物数量接近，误差小于3.99％，误差小，可以为技术研究提供数据支撑，以此为基础测量的夹杂物尺寸和成分也更准确。
主权项：1.一种夹杂物统计分析方法，其特征在于，所述方法包括，用扫描电子显微镜或者光学显微镜在待统计试样上随机识别10-100个夹杂物；统计所述识别的10-100个夹杂物的平均尺寸，获得待统计试样的夹杂物预估平均尺寸；所述夹杂物预估平均尺寸为2μm至6μm；扫描所述待统计试样，获得所述待统计试样中任意两个待确认夹杂物之间的距离；用所述任意两个待确认夹杂物之间的距离分别与所述夹杂物预估平均尺寸比较，获得待统计试样的夹杂物数量，具体包括：获得第i个待确认夹杂物与除去第1个到第i个夹杂物剩余的任意待确认夹杂物几何重心的距离，记为dii+1、dii+2……diN；当所述dii+1、dii+2……diN均＞所述夹杂物预估平均尺寸时，所述第i个待确认夹杂物为独立的夹杂物，判定待统计试样的夹杂物数量增加1个；当所述dii+1、dii+2……diN均≤所述夹杂物预估平均尺寸时，所述第i个待确认夹杂物是复合夹杂物，判定待统计试样的夹杂物数量不变。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 武汉科技大学 一种夹杂物统计分析方法
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