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FPGA芯片验证方法、系统、设备及存储介质 

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申请/专利权人:深圳市紫光同创电子有限公司

摘要:本发明提出一种FPGA芯片验证方法、系统、设备及存储介质,该方法包括:获取目标FPGA芯片和位流文件,所述目标FPGA芯片被划分为若干个电路区域,所述位流文件被划分为若干个数据区域,所述电路区域与所述数据区域一一对应;将每一数据区域中的数据强制赋值给对应电路区域的配置点,以使得对所述目标FPGA进行仿真验证。本发明实施例中通过建立目标FPGA芯片电路区域的配置点和位流文件中数据之间的映射关系,然后将位流文件中的数据强制赋值到电路区域中具体的配置点上,减少了配置数据加载步骤,从而达到减少验证时间,提升验证效率的目的。

主权项:1.一种FPGA芯片验证方法,其特征在于,包括:获取目标FPGA芯片和位流文件,所述目标FPGA芯片被划分为若干个电路区域,所述位流文件被划分为若干个数据区域,所述电路区域与所述数据区域一一对应;将每一数据区域中的数据强制赋值给对应电路区域的配置点,以对所述目标FPGA芯片进行仿真验证;所述目标FPGA芯片的若干个电路区域的划分步骤,包括:对所述目标FPGA芯片按照IOBANK进行划分,获取若干时钟区域;根据所述目标FPGA芯片的电路结构,将每一时钟区域划分为若干电路区域;所述位流文件的若干个数据区域的划分步骤,包括:根据所述时钟区域的大小和个数,将所述位流文件划分为若干位流子区域,每一位流子区域与每一时钟区域一一对应;对于任一时钟区域和任一位流子区域,根据所述任一时钟区域中每一电路区域的数据位宽和地址位宽,将所述任一位流子区域划分为若干数据区域,每一数据区域与每一电路区域一一对应,所述任一时钟区域与所述任一位流子区域对应;所述根据所述任一时钟区域中每一电路区域的数据位宽和地址位宽,将所述任一位流子区域划分为若干数据区域,包括:对于任一电路区域,根据所述任一电路区域的数据位宽,确定横向位置;根据所述任一电路区域的地址位宽,确定纵向位置;根据所述横向位置和所述纵向位置,确定与所述任一电路区域对应的数据区域。

全文数据:

权利要求:

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