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一种用于测量大半径圆弧直径的测量仪 

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申请/专利权人:长虹美菱股份有限公司

摘要:本发明公开一种用于测量大半径圆弧直径的测量仪,包括顶部外壳、表盘、波动测量机构、测量尺和底部外壳;顶部外壳包括顶部外壳本体,顶部外壳本体下表面内周侧分布有波纹凸起,顶部外壳本体上开有中心槽口和两环形槽口,顶部壳体本体外侧设有配合槽;表盘包括结构相同的第一表盘本体、第二表盘本体和第三表盘本体;波动测量机构包括拨动杆、第一连接杆、第二连接杆、第三连接杆、第四连接杆、两第一限位块、两第二限位块和两第五连接杆。本发明通过三点法测量大半径圆弧的直径,而不受待测物体的限制,降低测量误差,提高了检测的准确性,并满足不同直径的测量要求,具有结构简单、测量合理以及通用性强的特点。

主权项:1.一种用于测量大半径圆弧直径的测量仪,其特征在于:包括顶部外壳1、表盘、波动测量机构3、测量尺4和底部外壳5;顶部外壳1包括顶部外壳本体11,顶部外壳本体11下表面内周侧分布有第一波纹凸起14,顶部外壳本体11上开有中心槽口12和两环形槽口13,顶部外壳本体11外侧设有配合槽;表盘包括结构相同的第一表盘本体21、第二表盘本体22和第三表盘本体23,第一表盘本体21包括上表盘211,上表盘211下端安装有转动齿轮212,转动齿轮212下端面固定有第一定位柱213;波动测量机构3包括拨动杆31、第一连接杆32、第二连接杆33、第三连接杆34、第四连接杆35、两第一限位块36、两第二限位块37和两第五连接杆38;拨动杆31一端安装有拨动限位板311和拨动定位键312,拨动限位板311安装在顶部外壳本体11上配合槽内,拨动杆31上安装有与三个表盘本体上定位柱213相配合的定位孔313,第一连接杆32和第二连接杆33分别安装在拨动杆31一侧,第三连接杆34和第四连接杆35分别安装在拨动杆31另一侧,第一连接杆32通过一第二限位块37与一第五连接杆38一端固定连接,第二连接杆33通过一第一限位块36与一第五连接杆38另一端固定连接,第三连接杆34通过一第二限位块37与另一第五连接杆38一端固定连接,第四连接杆35通过一第一限位块36与另一第五连接杆38另一端固定连接;两第一限位块36上开有第一插接孔362,第一限位块36下端面固定有第二定位柱361,两第二限位块37上开有第二插接孔372,第二限位块37下端面固定有第三定位柱371;测量尺4包括第一测量尺本体41、第二测量尺本体42和第三测量尺本体43,第一测量尺本体41两侧设有第一锯齿411,第二测量尺本体42两侧设有第二锯齿421,第三测量尺本体43两侧设有第三锯齿431,第一测量尺本体41与一第二限位块37上的第二插接孔372滑动配合,第三测量尺本体43与另一第二限位块37上的第二插接孔372滑动配合,第二测量尺本体42分别与两第一限位块36上的第一插接孔362滑动配合;底部外壳5包括底部外壳本体51,底部外壳本体51上设有圆形凸起52,圆形凸起52周侧分布有与顶部外壳本体11上的凹槽相配合的第二波纹凸起53,用于固定底部外壳5和顶部外壳1,圆形凸起52上开有中心孔54、两第二弧形孔55、两第三弧形孔56、两第四弧形孔59和三第五弧形孔57,中心孔54与第一表盘本体21上的第一定位柱213相配合,第二弧形孔55与两侧的第一表盘本体21上的第一定位柱213相配合,第三弧形孔56与第二限位块37上的第二插接孔372相配合,第四弧形孔59与第一限位块36上的第一插接孔362相配合,第五弧形孔57下端安装有归零限位挡板58。

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