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申请/专利权人：山东科技大学
摘要：本发明涉及微波测量技术领域，具体公开了基于高斯脉冲光的微波电场精密测量方法，包括使用脉冲光谱宽带结合高斯型脉冲探测光作为探测场，结合里德堡原子以增强微波电场强度的精密测量能力；高斯型脉冲探测光通过电光强度调制器对连续光进行调制产生，并将脉冲光谱带宽与连续光作用下EIT传输窗口的线宽相匹配；介质透射谱展现两个峰值，两个峰值之间的频率分裂间隔与微波场电场强度呈线性关系；根据两个峰值之间产生周期性的光拍频信号精确检测两个峰值间的频率差异，实现微波电场的测量；本发明采用高斯型脉冲探测光与里德堡原子相互作用，以此增强对微波电场强度的测量能力，提高探测效率，简化并降低了实现微波成像的技术难度和工作量。
主权项：1.基于高斯脉冲光的微波电场精密测量方法，其特征在于，包括以下步骤：步骤一、使用脉冲光谱宽带结合高斯型脉冲探测光作为探测场，结合里德堡原子以增强微波电场强度的精密测量能力；所述高斯型脉冲探测光通过电光强度调制器对连续光进行调制产生，并将脉冲光谱带宽与连续光作用下EIT传输窗口的线宽相匹配；所述里德堡原子采用四能级冷87Rb原子，用态、、和分别代表87Rb原子的5S12、5P32、53D52和54P32态的四个能级；步骤二、介质透射谱展现两个峰值，两个峰值之间的频率分裂间隔与微波场电场强度呈线性关系；步骤三、根据两个峰值之间产生周期性的光拍频信号精确检测两个峰值间的频率差异，实现微波电场强度的测量。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 山东科技大学 基于高斯脉冲光的微波电场精密测量方法
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