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申请/专利权人：信利(仁寿)高端显示科技有限公司
摘要：本发明公开了一种GOA面板静电损坏的分析方法，包括：驱动点亮待检GOA面板；根据待检GOA面板上显示不良的情况，确定是否为外围区域上的栅驱动电路发生损坏，若是则进行步骤300；根据待检GOA面板上显示不良的位置，确定外围区域上的栅驱动电路损坏的大致区域；放大观察栅驱动电路损坏的大致区域，以确定栅驱动电路损坏的准确位置。该分析方法可提高在GOA面板上确定损坏位置的效率。本发明还公开了一种GOA面板改善结构和改善方法。
主权项：1.一种GOA面板静电损坏的分析方法，其特征在于，包括如下步骤：步骤100：驱动点亮待检GOA面板；步骤200：根据待检GOA面板上显示不良的情况，确定是否为外围区域上的栅驱动电路发生损坏，若是则进行步骤300；步骤300：根据待检GOA面板上显示不良的位置，确定外围区域上的栅驱动电路损坏的大致区域；步骤400：放大观察栅驱动电路损坏的大致区域，以确定栅驱动电路损坏的准确位置；在步骤400中，栅驱动电路损坏的准确位置包括损坏点和损坏膜层，其中放大观察栅驱动电路损坏的大致区域，以确定栅驱动电路损坏的准确位置的具体步骤如下：步骤401：放大观察栅驱动电路损坏的大致区域，以确定栅驱动电路的损坏点，所述损坏点为所述栅驱动电路中用于连接上下电路膜层的导通孔；步骤402：继续放大观察栅驱动电路的损坏点，并逐层剥离观察损坏点的功能膜层，以确定栅驱动电路的损坏膜层，所述损坏膜层为所述导通孔中的ITO层；步骤403：对栅驱动电路的损坏膜层进行切片，以确定栅驱动电路的损坏原因是否为静电损伤；在步骤403中，通过对损坏膜层进行切片可以清楚看到损坏膜层的内部及上下表面，若所述损坏膜层的上下表面和内部均有损伤，则所述损坏膜层为静电击穿，若所述损坏膜层仅上表面有损坏，则所述损坏膜层为普通划伤。
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百度查询： 信利(仁寿)高端显示科技有限公司 一种GOA面板静电损坏的分析方法、改善结构及改善方法
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