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内建动态老炼控制的集成电路、系统及方法 

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申请/专利权人:中国人民解放军国防科技大学

摘要:本发明涉及内建动态老炼控制的集成电路、系统及方法,通过老炼激励的生成在DUT内建实现,不需要老炼控制台的参与,DUT内部扫描链相关的触发器和组合逻辑实现最大程度的翻转,同时老炼激励覆盖DUT内部的内存组件,老炼范围充分且覆盖率高。老炼过程监测的PCB实现简单,解决了动态老炼数据收集和监测的难题,有效简化以往基于集成电路动态老炼系统的老练装置设计,老炼控制台不再需要使用FPGA实现,提供简单外部电源和时钟信号即可实现芯片的动态老炼。同时,高温试验箱窗口限制老炼工位数量的问题得到了彻底解决,有效降低了老炼测试复杂度。

主权项:1.一种内建动态老炼控制的集成电路,其特征在于,包括被测集成电路芯片,所述被测集成电路芯片部署有内建动态老炼控制模块,所述内建动态老炼控制模块包括扫描链控制子模块、存储器内建自测试控制子模块、老炼分时控制器子模块和老炼监测子模块;所述老炼分时控制器子模块分别连接所述扫描链控制子模块和所述存储器内建自测试控制子模块,所述老炼监测子模块分别连接所述扫描链控制子模块和所述存储器内建自测试控制子模块;所述老炼分时控制器子模块内设老炼分时控制器,用于控制所述扫描链控制子模块和所述存储器内建自测试控制子模块分时的轮流启动工作,所述扫描链控制子模块用于控制所述被测集成电路芯片上已有的扫描链首尾相连成一条长链,所述存储器内建自测试控制子模块用于控制所述被测集成电路芯片上已有的内存组件内建自测试控制器为功能时钟旁路模式,所述老炼监测子模块用于接收所述扫描链的最后一个触发器的Q端的测试结果以及所述内存组件的测试结果,将测试结果降频后作为所述被测集成电路芯片的测试输出。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 中国人民解放军国防科技大学 内建动态老炼控制的集成电路、系统及方法

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