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申请/专利权人：山东华光光电子股份有限公司
摘要：本发明涉及一种用于半导体激光器COS外观缺陷多角度快速检测装置及检测方法，属于半导体激光器封装领域，包括底座、载入料盘、收纳料盘、装载机构、正面测机构、转移机构和背面检测机构；底座前端设有载入料盘和收纳料盘，载入料盘和收纳料盘之间设有装载机构，装载机构由旋转电机Ⅰ、旋转盘、升降气缸Ⅰ、固定架和真空吸嘴组成；旋转电机Ⅰ上端设有旋转盘，旋转盘上端设有升降气缸Ⅰ，升降气缸Ⅰ上端设有固定架，固定架上设有真孔吸嘴；本发明装置结构简单，成本低廉，操作方便，可实现全自动进行COS外观缺陷检测工作。采用本装置进行COS外观缺陷检测工作，可以实现COS正反面多角度，全自动进行，其外观检测生产效率提高3‑5倍。
主权项：1.一种用于半导体激光器COS外观缺陷多角度快速检测装置，其特征在于，包括底座、载入料盘、收纳料盘、装载机构、正面检测机构、转移机构、背面检测机构和COS固定方盘；所述底座位于最下端，载入料盘和收纳料盘位于底座前端，所述装载机构设置于载入料盘和收纳料盘之间，装载机构用于吸取并转移放置COS固定方盘，通过装载机构将待检测的COS由载入料盘转移到正面固定平台，待COS检测完成之后，再将COS由正面固定平台转移到收纳料盘；所述正面检测机构用于对放置到正面固定平台上的COS固定方盘内的COS进行正面朝上时的多个角度进行检测；所述转移机构用于将COS固定方盘在正面固定平台和背面固定平台之间进行转移，并对COS固定方盘进行180°反转；所述背面检测机构位于正面检测机构左侧，背面检测机构用于对COS进行背面进行多个角度检测。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 山东华光光电子股份有限公司 一种用于半导体激光器COS外观缺陷多角度快速检测装置及检测方法
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