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申请/专利权人：三星电子株式会社
申请日：2023-07-05
公开（公告）日：2024-07-05
公开（公告）号：CN118294327A
主分类号：G01N15/00
分类号：G01N15/00
优先权：["20230103 KR 10-2023-0000805"]
专利状态码：在审-公开
法律状态：2024.07.05#公开
摘要：提供了一种被用于检测细颗粒的设备和方法，所述设备包括：细颗粒捕集器，包括被配置为捕获所述细颗粒的多个通孔；测量器，包括光源和检测器，光源被配置为将光发射到所述多个通孔，检测器被配置为检测通过所述多个通孔散射、反射或透射的光并测量光谱；以及处理器，被配置为：基于测量的光谱来估计被捕获到所述多个通孔中的所述细颗粒的数量，其中，所述多个通孔具有等于或小于10μm的直径。
主权项：1.一种被配置为检测细颗粒的设备，包括：细颗粒捕集器，包括被配置为捕获细颗粒的多个通孔；测量器，包括光源和检测器，光源被配置为将光发射到所述多个通孔，检测器被配置为检测通过所述多个通孔散射、反射或透射的光并测量光谱；以及处理器，被配置为：基于测量的光谱来估计被捕获到所述多个通孔中的细颗粒的数量，其中，所述多个通孔具有等于或小于10μm的直径。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 三星电子株式会社 用于检测细颗粒的设备和方法
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