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申请/专利权人：中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
申请日：2024-04-22
公开（公告）日：2024-07-05
公开（公告）号：CN118294434A
主分类号：G01N21/65
分类号：G01N21/65;G01N21/84;G01N21/01
优先权：
专利状态码：在审-实质审查的生效
法律状态：2024.07.23#实质审查的生效;2024.07.05#公开
摘要：本发明涉及一种相移干涉成像和定向发射SERS成像同时检测装置，属于检测装置技术领域。本发明的检测装置，包括相移干涉成像系统、光学耦合系统和定向发射SERS成像系统；相移干涉成像系统发射的激光以表面等离子体共振角度入射样品池中的被测物后，一部分光经介质膜反射，和相移干涉成像系统中的参考光干涉，得到被测物的位相变化三维图像；另一部分光汇聚到介质膜上，激发介质膜表面的等离子体，增强电场，增强的电场激发样品池内的被测物的SERS信号，激发出的SERS信号经过耦合棱镜发射，被定向发射SERS成像系统接收，得到被测物的定向发射SERS图像。该检测装置能够同时检测被测物的定向发射SERS图像以及位相变化三维图像。
主权项：1.相移干涉成像和定向发射SERS成像同时检测装置，其特征在于，包括相移干涉成像系统1、光学耦合系统2和定向发射SERS成像系统3；所述光学耦合系统包括耦合棱镜21，固定在耦合棱镜21下表面的介质膜22，固定在介质膜22下表面且用于承装被测物的样品池23；所述相移干涉成像系统1发射的激光以表面等离子体共振角度入射样品池23中的被测物后，一部分光经介质膜22反射回相移干涉成像系统1，和相移干涉成像系统1中的参考光干涉，得到被测物的位相变化三维图像；另一部分光汇聚到介质膜22上，激发介质膜22表面的等离子体，增强电场，增强的电场激发样品池23内的被测物的定向发射SERS信号32，激发出的定向发射SERS信号32经过耦合棱镜21后发射，被定向发射SERS成像系统3接收，得到被测物的定向发射表面增强拉曼散射图像。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 相移干涉成像和定向发射SERS成像同时检测装置
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