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申请/专利权人：上海华虹宏力半导体制造有限公司
申请日：2024-03-21
公开（公告）日：2024-07-05
公开（公告）号：CN118299220A
主分类号：H01H47/00
分类号：H01H47/00;G01R31/28
优先权：
专利状态码：在审-实质审查的生效
法律状态：2024.07.23#实质审查的生效;2024.07.05#公开
摘要：本发明公开了一种扩展继电器控制信号的方法，包含测试机，所述测试机提供测试通道，且所述测试机提供多个继电器控制信号；接口板，所述接口板上包含通道选择模块以及多个继电器；所述的通道选择模块实现对继电器控制信号的通道数扩展，其接收所述测试机上的多个继电器控制信号，并对所述的多个继电器控制信号进行再分配，以传递给所述的多个继电器；所述的多个继电器接收分配的继电器控制信号，并在所述继电器控制信号的控制下，将所述继电器连接的测试通道分配给探针卡；探针卡，所述探针卡连接多个待测单元；所述探针卡通过继电器连接测试通道，将测试机提供的测试信号传输给待测单元。通过对两个继电器控制信号进行组合控制，实现对继电器控制信号的扩展。
主权项：1.一种扩展继电器控制信号的方法，其特征在于：包含：测试机，所述测试机提供测试通道，且所述测试机提供多路继电器控制信号；接口板，所述接口板上包含通道选择模块以及多个继电器；所述的通道选择模块实现对继电器控制信号的通道数扩展，其接收所述测试机上的多路继电器控制信号，并对所述的多个继电器控制信号进行再分配，以每两个继电器控制信号为一组组合控制信号接入通道选择模块，通过信号的不同组合控制通道选择模块的不同端口，以传递给所述的多个继电器；所述的多个继电器接收分配的继电器控制信号，并在所述继电器控制信号的控制下，将所述继电器连接的测试通道分配给探针卡；探针卡，所述探针卡连接多个待测单元；所述探针卡通过继电器连接测试通道，将测试机提供的测试信号传输给待测单元。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 上海华虹宏力半导体制造有限公司 扩展继电器控制信号的方法
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