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申请/专利权人：北京无线电计量测试研究所
申请日：2022-12-19
公开（公告）日：2024-07-02
公开（公告）号：CN116256341B
主分类号：G01N21/64
分类号：G01N21/64
优先权：
专利状态码：有效-授权
法律状态：2024.07.02#授权;2023.06.30#实质审查的生效;2023.06.13#公开
摘要：本申请公开了一种离子阱电极检测装置和检测方法，解决了离子阱电极位置的检测困难的问题。一种离子阱电极检测装置，包含激光器、聚焦透镜组、位移台和高真空离子囚禁系统。所述激光器发射的激光通过聚焦透镜组汇聚到高真空离子囚禁系统内。所述聚焦透镜组设置在位移台上。所述位移台调节聚焦透镜组与高真空离子囚禁系统的相对位置。检测激光光斑，确定是否产生荧光。本申请能够应用于量子精密测量、量子计算及质谱分析等领域，解决装配后离子阱电极位置难以检测，易引起离子囚禁不稳定的问题。
主权项：1.一种离子阱电极检测装置，其特征在于，包含激光器、聚焦透镜组、位移台、高真空离子囚禁系统、物镜组和CCD相机；所述激光器发射的激光通过聚焦透镜组汇聚到高真空离子囚禁系统内；所述聚焦透镜组设置在位移台上；所述位移台调节聚焦透镜组与高真空离子囚禁系统的相对位置；所述物镜组为透镜的组合，根据激光波长进行镀膜，用于收集放大高真空离子囚禁系统的上离子阱反射的荧光信号；所述CCD相机，用于对物镜组放大的信号进行荧光探测。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 北京无线电计量测试研究所 一种离子阱电极检测装置及检测方法
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