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申请/专利权人：江苏吉莱微电子股份有限公司
申请日：2024-06-03
公开（公告）日：2024-07-02
公开（公告）号：CN118275812A
主分类号：G01R31/00
分类号：G01R31/00;G01R31/12;G06F30/36;G06F111/04
优先权：
专利状态码：在审-实质审查的生效
法律状态：2024.07.19#实质审查的生效;2024.07.02#公开
摘要：本发明提供了一种ESD保护器件的保护性能衰减分析预测方法，涉及ESD保护器件技术领域，包括：读取ESD保护器件连接的电路拓扑，包括ESD保护器件、电路元件、接线，电路元件中的敏感元件存在保护标记；进行基于静电保护的击穿耦合分析，确定击穿耦合关系；结合空间电磁场搭建电路模拟单元；读取实时电路场景，进行场景化暂衰减分析，确定第一衰减信息；以自然损耗趋势为预衰减趋势，进行基于服役状态的时序衰减分析，确定第二衰减信息；确定性能衰减结果。本发明解决了现有技术对于ESD保护器件的保护性能衰减分析无法准确预测长期使用和外部环境因素影响导致的器件性能变化，导致器件的稳定性和可靠性较差的技术问题。
主权项：1.一种ESD保护器件的保护性能衰减分析预测方法，其特征在于，所述方法包括：读取ESD保护器件连接的电路拓扑，所述电路拓扑包括ESD保护器件、电路元件、接线，且电路元件中的敏感元件存在保护标记；结合所述电路拓扑，进行基于静电保护的击穿耦合分析，确定击穿耦合关系；以所述击穿耦合关系为约束，结合空间电磁场，基于所述电路拓扑搭建电路模拟单元，所述电路模拟单元基于模拟场域与模拟电路拟合搭建；读取实时电路场景，结合所述电路模拟单元，对所述ESD保护器件进行场景化的暂衰减分析，确定第一衰减信息；结合所述电路模拟单元，以自然损耗趋势为预衰减趋势，对所述ESD保护器件进行基于服役状态的时序衰减分析，确定第二衰减信息；基于所述第一衰减信息与所述第二衰减信息，确定性能衰减结果。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 江苏吉莱微电子股份有限公司 一种ESD保护器件的保护性能衰减分析预测方法
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