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申请/专利权人：厦门聚视智创科技有限公司
摘要：本发明公开一种高精度缺陷限度判断方法，通过设置处理终端，预配置限度判断组件并构建坐标系并在该坐标系中搭建网格体系并预设缺陷限度参数，随后通过架设线扫相机组构建扫描通道并通过扫描通道对待检测工件表面进行视觉扫描，获取待检测工件表面的立体构型，并在立体构型上标记缺陷位置并架设CT扫描通道，使待检测工件通过CT扫描通道对其进行断层解析，从而获得缺陷位置的具体构型，将立体构型及缺陷位置的具体构型录入限度判断组件并在网格体系中按照实际尺寸及对应位置进行复现并与预设的缺陷限度参数进行比较以完成对缺陷限度的精确判断，本发明的优点在于可以实现对缺陷的有效扫描识别及高精度的缺陷限度判断。
主权项：1.一种高精度缺陷限度判断方法，其特征在于：包括以下步骤：S1、设置处理终端，预配置限度判断组件，限度判断组件包括一个基准平面及一个沿基准平面向上延伸的向量，依据基准平面和向量构建坐标系并在该坐标系中搭建网格体系并预设缺陷限度参数；S2、架设线扫相机组构建扫描通道并通过扫描通道对待检测工件表面进行视觉扫描，获取待检测工件表面的立体构型，并在立体构型上标记缺陷位置；S3、架设CT扫描通道，使待检测工件通过CT扫描通道对其进行断层解析，从而获得缺陷位置的具体构型；S4、将待检测工件的立体构型及缺陷位置的具体构型录入限度判断组件并在网格体系中按照实际尺寸及对应位置进行复现；S5、测定复现在网格体系内的待检测工件的立体构型及缺陷位置的体量及边界尺寸，并与预设的缺陷限度参数进行比较以完成对缺陷限度的精确判断。
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权利要求：
百度查询： 厦门聚视智创科技有限公司 一种高精度缺陷限度判断方法
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