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一种条纹阴影定位的方法、装置、介质及设备 

申请/专利权人:湖南大学

申请日:2022-07-13

公开(公告)日:2024-06-25

公开(公告)号:CN115183698B

主分类号:G01B11/25

分类号:G01B11/25

优先权:

专利状态码:有效-授权

法律状态:2024.06.25#授权;2022.11.01#实质审查的生效;2022.10.14#公开

摘要:本发明提供了一种条纹阴影定位的方法、装置、介质及设备,应用于条纹投影轮廓术,方法包括:在向测试对象投射正弦光栅条纹时,采集所述测试对象在水平方向和垂直方向上的正弦光栅条纹图像;根据所述水平方向上的正弦光栅条纹图像和所述垂直方向上的正弦光栅条纹图像,得到水平包裹相位和垂直包裹相位;根据所述水平包裹相位和垂直包裹相位,得到水平离散阴影区域和垂直离散阴影区域;将所述水平离散阴影区域和垂直离散阴影区域进行融合得到融合后的离散阴影区域;对所述融合后的离散阴影区域进行光强分类和排序,得到阴影阈值;利用所述阴影阈值对正弦光栅条纹图像进行条纹阴影定位,得到条纹阴影定位结果。

主权项:1.一种条纹阴影定位的方法,其特征在于,所述方法包括:步骤1,在向测试对象投射正弦光栅条纹时,采集所述测试对象在水平方向和垂直方向上的正弦光栅条纹图像;步骤2,根据所述水平方向上的正弦光栅条纹图像和所述垂直方向上的正弦光栅条纹图像,得到水平包裹相位和垂直包裹相位;步骤3,根据所述水平包裹相位和垂直包裹相位,得到水平离散阴影区域和垂直离散阴影区域;步骤4,将所述水平离散阴影区域和垂直离散阴影区域进行融合得到融合后的离散阴影区域;步骤5,对所述融合后的离散阴影区域进行光强分类和排序,得到阴影阈值;步骤6,利用所述阴影阈值对所述正弦光栅条纹图像进行条纹阴影定位,得到条纹阴影定位结果。

全文数据:

权利要求:

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