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一种圆环瑕疵检测方法、系统及存储介质 

申请/专利权人:杭州汇萃智能科技有限公司

申请日:2024-03-25

公开(公告)日:2024-06-25

公开(公告)号:CN118247241A

主分类号:G06T7/00

分类号:G06T7/00;G06T7/13;G06T7/62;G06T5/20;G06T7/73

优先权:

专利状态码:在审-公开

法律状态:2024.06.25#公开

摘要:本申请公开了圆环瑕疵检测方法,方法包括:获取待检测圆环图像,利用预设的圆环ROI信息定位圆环图像并进行灰度化;对灰度处理后的图像进行中值滤波得到中值滤波图,利用中值滤波图进行低频去噪;以ROI圆心为起点,向圆周上做直线,以圆心为轴,对圆周边缘进行旋转扫描得到初步采样点;过滤后采样点进行圆拟合,得到第一圆函数,更新ROI圆心和半径;获取ROI外圆轮廓点集合对点集中点的位置并排序,遍历外圆轮廓点集合,得到边缘点;消除冗余的边缘点,并排序得到实际轮廓,利用实际轮廓的边缘点进行圆拟合,得到第二圆函数;计算实际轮廓的边缘点到第二圆的偏差,根据偏差确定出瑕疵位置。本发明能够抗噪声干扰,提高瑕疵检测精度。

主权项:1.一种圆环瑕疵检测方法,其特征在于,所述方法包括:获取待检测圆环图像,利用预设的圆环ROI信息定位所述圆环图像并进行灰度化处理,所述圆环ROI信息包括ROI圆心和半径;对灰度处理后的图像进行中值滤波得到中值滤波图,利用所述中值滤波图对灰度处理后的图像进行低频去噪,得到去除干扰噪声的图像;以ROI圆心为起点,向圆周上做直线,以圆心为轴,按照预设的角度步长顺圆周方向对圆周边缘进行旋转扫描得到初步采样点;对所述初步采样点进行过滤后进行圆拟合,得到第一圆函数,更新ROI圆心和半径;获取ROI外圆轮廓点集,并对点集中点的位置进行排序,遍历所述外圆轮廓点集合,利用预设的异常点消除方法剔除异常点,得到边缘点;消除冗余的边缘点,并排序得到实际轮廓,利用实际轮廓的边缘点进行圆拟合,得到第二圆函数;计算实际轮廓的边缘点到第二圆的偏差,根据偏差确定出瑕疵位置。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 杭州汇萃智能科技有限公司 一种圆环瑕疵检测方法、系统及存储介质

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