申请/专利权人：赛诺威盛科技(北京)股份有限公司

申请日：2024-02-01

公开（公告）日：2024-06-21

公开（公告）号：CN117679060B

主分类号：A61B6/03

分类号：A61B6/03;A61B6/58;A61B6/00;G16H40/40

优先权：

专利状态码：有效-授权

法律状态：2024.06.21#授权;2024.03.29#实质审查的生效;2024.03.12#公开

摘要：本发明涉及X射线成像领域，尤其是涉及CT领域。一种基于薄圆盘模体的球管机械位置校正方法，包括：获取薄圆盘模体在探测器上的投影数据，并根据投影数据，得到探测器上每个视角的投影边缘坐标；根据球管在初始机械位置发出的X射线经过薄圆盘模体边缘，投影到曲面的I点，得到I点的模拟值坐标；将I点的模拟值坐标，转换至探测器所在的坐标系中，得到I点的探测坐标；对I点的探测坐标，进行测量，得到I点的实际值坐标；利用模拟值坐标和实际值坐标的偏差，对球管的初始位置进行校正，得到相较于球管的目标机械位置的偏移量，并根据偏移量，调整初始机械位置。通过一次扫描薄圆盘模体，同时估算出球管z向机械位置和x向机械位置的误差。

主权项：1.一种基于薄圆盘模体的球管机械位置校正方法，其特征在于，包括：获取所述薄圆盘模体在探测器上的投影数据，并根据所述投影数据，得到所述探测器上每个视角的投影边缘坐标；根据所述球管在初始机械位置发出的X射线经过所述薄圆盘模体边缘，投影到曲面的I点，得到所述I点的模拟值坐标，其中，所述曲面表示所述探测器所在圆柱上的曲面；将所述I点的模拟值坐标，转换至所述探测器所在的坐标系中，得到所述I点的探测坐标；对所述I点的探测坐标，进行测量，得到所述I点的实际值坐标；利用所述模拟值坐标和所述实际值坐标的偏差，对所述球管的初始位置进行校正，得到相较于所述球管的目标机械位置的偏移量，并根据所述偏移量，调整所述初始机械位置，其中，所述偏移量表示，在坐标系中，所述初始机械位置，在z向机械位置和x向机械位置的偏差；其中，所述获取所述薄圆盘模体在探测器上的投影数据，并根据投影数据，得到每个视角的投影边缘坐标的步骤，包括：获取所述薄圆盘模体竖直的，置于滑环旋转中心的情况下，所述薄圆盘模体在所述探测器上的投影数据；对所述投影数据进行各个视角的边缘坐标提取，得到所述探测器上每个视角的所述投影边缘坐标，其中，所述投影边缘坐标表示，在坐标系中，每个投影的通道上，z方向第一个和最后一个不为0的数据坐标点；所述根据所述球管在初始机械位置发出的X射线经过所述薄圆盘模体边缘，投影到曲面的I点，得到所述I点的模拟值坐标的步骤，包括：建立所述初始机械位置焦点H的坐标，其中，所述焦点H的坐标表示为： ； ； ；其中，为焦点H的x轴坐标，为焦点H的y轴坐标，为焦点H的z轴坐标，为假定已知的所述球管的x向机械位置偏差，为假定已知的所述球管的z向机械位置偏差，为初始机械位置与旋转中心的连线和x轴的夹角；获取所述薄圆盘模体的边缘选取任意一点F，以及所述探测器所在圆柱曲面的方程，得到所述X射线经过F点，投影到所述探测器所在的曲面的I点的X射线方程，其中，F点的坐标为，所述X射线方程为： ； ； ；其中，、和为X射线的方向向量，t为一个参数，表示X射线上的所述点F相对于所述焦点H的距离；所述探测器所在所述圆柱曲面的方程为： 其中，SDD为焦点H到所述探测器的距离；根据所述X射线方程和所述探测器所在所述圆柱曲面的方程，得到所述I点的模拟值坐标；所述将所述I点的模拟值坐标，转换至所述探测器所在的坐标系中，得到所述I点的探测坐标的步骤，包括：根据所述模拟值坐标，得到所述I点对应的所述探测器中心坐标；根据所述目标机械位置坐标、所述模拟值坐标和所述I点对应的所述探测器中心坐标，得到所述目标机械位置点、所述I点和所述探测器中心坐标点的三点之间的距离；根据所述三点之间的距离，得到所述目标机械位置的角度；根据所述目标机械位置的角度，正比于所述探测器的x坐标，得到在所述探测器坐标系中，所述I点的探测坐标。

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