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申请/专利权人：长鑫存储技术有限公司
摘要：本申请提供一种测试电路。该电路包括：输入端、处理电路和输出端，输入端用于接收输入信号，输入信号包括用于指示测试目标电路模块的测试命令和目标电路模块的地址，处理电路用于根据测试命令和目标电路模块的地址确定测试模式信号，测试模式信号携带测试类型，测试模式信号用于触发目标电路模块进行与测试类型对应的测试，输出端用于根据目标电路模块的地址将测试模式信号发送至目标电路模块。从而，可实现向存储器芯片内不同的电路模块准确地传送测试模式信号。
主权项：1.一种测试电路，其特征在于，包括：输入端、处理电路和输出端；所述输入端用于接收输入信号，所述输入信号包括用于指示测试目标电路模块的测试命令和所述目标电路模块的地址；所述处理电路，用于根据所述测试命令和所述目标电路模块的地址确定测试模式信号，所述测试模式信号携带测试类型，所述测试模式信号用于触发所述目标电路模块进行与所述测试类型对应的测试；所述输出端，用于根据所述目标电路模块的地址将所述测试模式信号发送至所述目标电路模块；所述处理电路包括：第一地址锁存器、命令逻辑电路和第二地址锁存器；所述第一地址锁存器，用于接收第一内部地址，并输出第一内部延迟地址；所述命令逻辑电路，用于接收所述测试命令和第二内部地址，并输出测试模式命令；所述第二地址锁存器，用于接收第三内部地址和所述测试模式命令，并输出第三内部延迟地址。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 长鑫存储技术有限公司 测试电路
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