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申请/专利权人：华中科技大学
摘要：本发明公开了基于差别辐照的粗糙表面材料样品毫米波发射率测量方法及系统，包括构建两种不同强度均匀无极化辐照环境，将材料样品、反射参考体以及辐射参考体置于其中；利用辐射计在该两种环境下分别对同一位置的材料样品、反射参考体以及辐射参考体进行同观测角、同极化的毫米波辐射测量，得到两组不同强度辐照环境下样品和参考体电压测量结果；基于测量输出中包含的数学物理关系，对测量结果做差值分析，进而求解出发射率值。本发明可不需要对材料温度进行直接测量，原理上可实现很大温度范围内的粗糙表面材料发射率测量。
主权项：1.基于差别辐照的材料样品毫米波发射率测量方法，其特征在于，包括以下步骤：（1）构建两种不同强度均匀无极化辐照环境A和B；（2）将材料样品、反射参考体以及辐射参考体置入环境A中，分别对同一位置的材料样品、反射参考体以及辐射参考体进行同观测角、同极化的毫米波辐射测量，得到第一组电压测量值VA1，VA2，VA3；（3）将材料样品、反射参考体以及辐射参考体置入环境B中，分别对同一位置的材料样品和反射参考体以及辐射参考体进行同观测角、同极化辐射测量，得到第二组电压测量值VB1，VB2，VB3；（4）利用所述两组电压测量值进行差值分析，得到材料样品的发射率，具体实现方式为：将VA1减去VB1得到第一差值，VA2减去VB2得到第二差值，VA3减去VB3得到第三差值，再将第一差值减去第二差值得△V12，第二差值减去第三差值得△V23，最后将△V12除以△V23得到材料样品的发射率。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 华中科技大学 基于差别辐照的材料样品毫米波发射率测量方法及系统
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